[發(fā)明專利]齒盤機(jī)械反饋圈測角實(shí)現(xiàn)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811228829.1 | 申請日: | 2018-10-22 |
| 公開(公告)號: | CN109238178A | 公開(公告)日: | 2019-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭志;王曉卿;任夢晴;陳先梅;柯四十;胡斌 | 申請(專利權(quán))人: | 九江精達(dá)檢測技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 江西省專利事務(wù)所 36100 | 代理人: | 張文 |
| 地址: | 332000 江西*** | 國省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 機(jī)械裝置 齒盤 反射式光電開關(guān) 上齒盤 控制器 轉(zhuǎn)動 機(jī)械反饋 帶動齒 反饋圈 測角 電信號變化 電信號傳輸 一步進(jìn)電機(jī) 步進(jìn)電機(jī) 定位準(zhǔn)確 內(nèi)部設(shè)置 發(fā)射器 接收器 初定位 體積小 下齒盤 暗面 齒頂 齒根 亮面 射出 抬起 測試 監(jiān)測 | ||
本發(fā)明公開了一種齒盤機(jī)械反饋圈測角實(shí)現(xiàn)方法,其具體步驟如下:在齒盤機(jī)械裝置的上齒盤的內(nèi)部設(shè)置有反饋圈,在齒盤機(jī)械裝置的下齒盤上設(shè)有反射式光電開關(guān);在控制器的控制下,一個步進(jìn)電機(jī)帶動齒盤機(jī)械裝置的上齒盤抬起,另一步進(jìn)電機(jī)帶動齒盤機(jī)械裝置的上齒盤轉(zhuǎn)動,反饋圈也隨著齒盤機(jī)械裝置的上齒盤轉(zhuǎn)動,使得反射式光電開關(guān)的發(fā)射器射出的光線由齒頂?shù)牧撩孓D(zhuǎn)到齒根的暗面,反射式光電開關(guān)中的接收器接受的電信號發(fā)生明顯變化,并將變化的電信號傳輸給控制器,控制器通過監(jiān)測反射式光電開關(guān)的電信號變化,從而按常規(guī)方法根據(jù)變化的次數(shù)準(zhǔn)確得到齒盤機(jī)械裝置所轉(zhuǎn)動的角度,進(jìn)行準(zhǔn)確的初定位。本發(fā)明具有體積小、定位準(zhǔn)確、測試方法簡單的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及齒盤機(jī)械裝置旋轉(zhuǎn)角度測量領(lǐng)域,尤其是涉及一種齒盤機(jī)械反饋圈測角實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)
轉(zhuǎn)動角度測量對齒盤機(jī)械裝置都是必須的,測角方法有光學(xué)分度頭法、自準(zhǔn)直法、多面棱體法等,這些方法都是高精度動態(tài)角度測量方法。而一些設(shè)備不需要高精度的角度測量,特別是對于小型的齒盤機(jī)械裝置而言,由于內(nèi)部空間小、結(jié)構(gòu)緊湊,無法容納體積較大、高精度的角度測量裝置,為了能實(shí)時角度定位,需為這些小型的齒盤機(jī)械裝置研究一種簡單可靠的測角方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種體積小、定位準(zhǔn)確、測試方法簡單的齒盤機(jī)械反饋圈測角實(shí)現(xiàn)方法。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種齒盤機(jī)械反饋圈測角實(shí)現(xiàn)方法,特征是:具體步驟如下:
A、在齒盤機(jī)械裝置的上齒盤內(nèi)安裝有一個反饋圈,反饋圈為一個內(nèi)壁設(shè)有若干個齒的內(nèi)齒輪,反饋圈的每個齒的齒頂面均為亮面,齒根面均為暗面;反饋圈的底部安裝在齒盤機(jī)械裝置的上齒盤的內(nèi)部端面上,反饋圈的外圈通過緊定螺釘與KD-504膠固定在上齒盤的內(nèi)圈上,同時反饋圈的外圈外壁與下齒盤的內(nèi)圈內(nèi)壁存在有間隙;
B、在反饋圈內(nèi)的中軸線上固定有一個反射式光電開關(guān),反射式光電開關(guān)安裝在下齒盤的內(nèi)部,反射式光電開關(guān)中的發(fā)射器與接收器均同時對準(zhǔn)反饋圈中的一個亮面或暗面;反射式光電開關(guān)中的發(fā)射器發(fā)出的光線經(jīng)過反饋圈的亮面反射后,由接收器接收,并通過導(dǎo)線送至齒盤機(jī)械裝置內(nèi)的控制器進(jìn)行處理;
C、在控制器的控制下,一個步進(jìn)電機(jī)帶動齒盤機(jī)械裝置的上齒盤向上抬起,上齒盤向上脫離下齒盤,另一步進(jìn)電機(jī)帶動上齒盤轉(zhuǎn)動,反饋圈也隨著上齒盤一齊轉(zhuǎn)動,下齒盤和反射式光電開關(guān)固定不動,反射式光電開關(guān)的發(fā)射器射出的光線由齒頂?shù)牧撩孓D(zhuǎn)到齒根的暗面,即反饋圈的轉(zhuǎn)動能使得反射式光電開關(guān)得到的電信號發(fā)生變化,反射式光電開關(guān)中的接收器接受的電信號也發(fā)生明顯變化,反射式光電開關(guān)中的接收器將變化的電信號傳輸給控制器,控制器通過監(jiān)測反射式光電開關(guān)的電信號變化,控制器按常規(guī)方法根據(jù)變化的次數(shù)準(zhǔn)確得到齒盤機(jī)械裝置所轉(zhuǎn)動的角度,進(jìn)行準(zhǔn)確的初定位,實(shí)現(xiàn)齒盤機(jī)械裝置測角的目的。
反饋圈能根據(jù)實(shí)際的齒盤機(jī)械裝置更改外形尺寸大小與形狀,如齒盤機(jī)械裝置內(nèi)為圓孔,則將反饋圈制成環(huán)形,如齒盤機(jī)械裝置內(nèi)為方孔,則將反饋圈制成方形,同時能根據(jù)需要更改反饋圈內(nèi)壁上齒的齒頂、齒根的寬度,即改變齒數(shù)。
本發(fā)明是在傳動的齒盤機(jī)械裝置上增設(shè)了反饋圈和反射式光電開關(guān),反饋圈隨著齒盤機(jī)械裝置一起轉(zhuǎn)動,反射式光電開關(guān)能檢測到反饋圈轉(zhuǎn)動后的角度變化信息,并將變化的電信號傳輸給控制器,控制器按常規(guī)方法根據(jù)變化的次數(shù)準(zhǔn)確得到齒盤機(jī)械裝置所轉(zhuǎn)動的角度,進(jìn)行準(zhǔn)確的初定位,實(shí)現(xiàn)齒盤機(jī)械裝置測角的目的。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
1、體積小、結(jié)構(gòu)簡單:本發(fā)明的結(jié)構(gòu)由反饋圈與反射式光電開關(guān)兩部分組成,結(jié)構(gòu)簡單;
2、能準(zhǔn)確的初定位:本發(fā)明通過反射式光電開關(guān)的電信號變化,能夠較為準(zhǔn)確地定位齒盤機(jī)械裝置的角度變化;
3、測試方法簡單、尺寸可變、應(yīng)用前景廣。
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