[發(fā)明專利]一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811223370.6 | 申請日: | 2018-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN109459872A | 公開(公告)日: | 2019-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 許恩;余廣得;鄧志 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢精測電子集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 武漢東喻專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 李佑宏 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市洪*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模組檢測 模組 自動化 圖像壓縮處理 攝像頭拍攝 標(biāo)準(zhǔn)圖片 畫面拼接 模組測試 圖片 集成度 出模 功耗 預(yù)設(shè) 脫離 | ||
本發(fā)明公開了一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法及裝置,該方法及裝置利用第一PCIe顯卡對匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面進(jìn)行畫面拼接處理得到整幅圖片;利用第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將接收的模組圖片與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖片進(jìn)行比較并判別出模組圖片是否異常以及異常的類別和位置;利用第四PCIe顯卡對處理后的模組圖片進(jìn)行圖像壓縮處理;從而實現(xiàn)脫離PC的自動化模組檢測,提高整個裝置的集成度,縮小自動化模組測試設(shè)備的體積并減少相應(yīng)的功耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于模組檢測領(lǐng)域,具體涉及一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法及裝置。
背景技術(shù)
液晶顯示器是由一定數(shù)量的彩色或黑白像素組成的平面超薄顯示設(shè)備,放置于光源或者反射面前方,如果給液晶施加一個電場,會改變它的分子排列,這時如果給它配合偏振光片,它就具有阻止光線通過的作用,即在不施加電場時光線可以順利透過,如果再配合彩色濾光片,改變加給液晶電壓大小,就能改變某一顏色透光量的多少,也可以形象地說改變液晶兩端的電壓就能改變它的透光度。
目前,大部分生產(chǎn)廠家對液晶顯示器采用的檢測方式有兩種,即人工檢測和自動化液晶模組檢測設(shè)備檢測。人工檢測的方法通過向待檢測的液晶模組發(fā)出圖像信號進(jìn)行點屏,待檢測的液晶模組接收該信號后,人工肉眼觀察液晶模組的顯示情況,判斷該液晶模組是否組裝合格。這種方式存在的問題有:1、人工肉眼檢測的結(jié)果誤差太大,容易出現(xiàn)漏檢、誤檢的情形;2、人工移動液晶模組與信號發(fā)生裝置連接操作困難,容易出現(xiàn)損壞液晶模組的情況;3、人工檢測易疲勞,且費時費力,工作效率低下,成本高昂。
自動化液晶模組檢測設(shè)備通過視覺對Mura(顯示器亮度不均勻造成各種痕跡的現(xiàn)象)進(jìn)行檢測,誤檢率較大,檢測系統(tǒng)性能差,無法覆蓋模組廠商所有的檢測標(biāo)準(zhǔn),另外,自動化液晶模組檢測設(shè)備一般采取多臺PC、多臺顯卡以及FPGA方案,在檢測過程中,單臺PC和單臺顯卡組合進(jìn)行單功能算法處理,多臺PC和多臺顯卡進(jìn)行多功能算法處理,如有的PC進(jìn)行算法處理,有的PC使用大容量的硬盤進(jìn)行圖像存儲,F(xiàn)PGA則用于實現(xiàn)采集與點屏操作,各PC間通過網(wǎng)線或光纖進(jìn)行交互,因而,測試設(shè)備總體積較大無法實現(xiàn)小型集成化,同時由于多臺PC機(jī)的存在整個系統(tǒng)的功耗較大。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法及裝置,其利用第一PCIe顯卡對匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面進(jìn)行畫面拼接處理得到整幅圖片;利用第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將接收的模組圖片與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖片進(jìn)行比較并判別出模組圖片是否異常以及異常的類別和位置;利用第四PCIe顯卡對處理后的模組圖片進(jìn)行圖像壓縮處理;從而實現(xiàn)脫離PC的自動化模組檢測,提高整個裝置的集成度,縮小自動化模組測試設(shè)備的體積并減少相應(yīng)的功耗。
為實現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個方面,提供了一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法,具體步驟為:
S1.FPGA通過進(jìn)行點屏切圖操作獲取并匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面;
S2.第一PCIe顯卡對匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面進(jìn)行畫面拼接處理得到整幅圖片;
S3.FPGA將步驟S2中得到的整幅圖片按位置排序分割成多幅圖片;第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將多幅圖片與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖片進(jìn)行比較,判別出該模組是否異常以及異常的類別和位置;
S4.第四PCIe顯卡對步驟S3處理后的模組圖片進(jìn)行圖像壓縮處理;FPGA將第四PCIe顯卡壓縮處理后的模組數(shù)據(jù)及第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡的評判結(jié)果存至本地存儲空間。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),步驟S2還包括:
第一PCIe顯卡依據(jù)多個攝像頭位于模組的具體位置對多個攝像頭的拍攝圖片進(jìn)行標(biāo)號,并利用邊緣檢測算法去除相鄰圖片的重疊部分以及邊緣圖片超出模組的部分后再進(jìn)行拼接處理。
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G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
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