[發明專利]一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201811223370.6
• 申請日: 2018-10-19
• 公開（公告）號: CN109459872A
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 許恩;余廣得;鄧志
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 李佑宏

1.一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法，其特征在于，具體步驟為：

S1.FPGA通過進行點屏切圖操作獲取并匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面；

S2.第一PCIe顯卡對匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面進行畫面拼接處理得到整幅圖片；

S3.FPGA將步驟S2中得到的整幅圖片按位置排序分割成多幅圖片；第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將所述多幅圖片與預設的標準圖片進行比較，判別該模組是否異常以及異常的類別和位置；

S4.第四PCIe顯卡對步驟S3處理后的模組圖片進行圖像壓縮處理；FPGA將第四PCIe顯卡壓縮處理后的模組數據及第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡的評判結果存至本地存儲空間。

2.根據權利要求1所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法，其特征在于，步驟S2還包括：

第一PCIe顯卡依據多個攝像頭位于模組的具體位置對多個攝像頭的拍攝圖片進行標號，并利用邊緣檢測算法去除相鄰圖片的重疊部分以及邊緣圖片超出模組的部分后再進行拼接處理。

3.根據權利要求1所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法，其特征在于，步驟S3中，第二PCIe顯卡用于所述多幅圖片的模組異常信息檢測，第三PCIe顯卡用于依據所述多幅圖片的異常信息檢測結果對多幅圖片進行Demura修復。

4.根據權利要求1所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法，其特征在于，步驟S3中，第二PCIe顯卡用于對一部分的所述多幅圖片做模組異常信息檢測并根據檢測結果進行Demura修復，第二PCIe顯卡用于對另一部分的所述多幅圖片做模組異常信息檢測并根據檢測結果進行Demura修復。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測方法，其特征在于，該方法可對多個模組進行并行檢測處理以減少模組檢測的檢測時間。

6.一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測裝置，該裝置包括第一至第四PCIe顯卡和FPGA模塊，第一至第四PCIe顯卡依次電連接FPGA模塊，FPGA模塊包括用于對模組不同位置進行拍攝的多個攝像頭，其特征在于，

FPGA模塊利用點屏切圖操作獲取并匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面并發送給第一PCIe顯卡；

第一PCIe顯卡對匯總多個攝像頭拍攝的模組畫面進行畫面拼接處理得到整幅圖片并發送給FPGA模塊；

FPGA模塊將第一PCIe顯卡處理后的整幅圖片按位置排序分割成多幅圖片發送給第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡；第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將所述多幅圖片與預設的標準圖片進行比較，判別該模組是否異常以及異常的類別和位置；第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡將處理結果發送給FPGA模塊；

第四PCIe顯卡接收FPGA模塊發送的第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡處理后的模組圖片進行圖像壓縮處理后發送給FPGA模塊；FPGA模塊將第四PCIe顯卡壓縮處理后的模組數據及第二PCIe顯卡和第三PCIe顯卡的評判結果存至本地存儲空間。

7.根據權利要求6所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測裝置，其特征在于，第一PCIe顯卡依據多個攝像頭位于模組的具體位置對多個攝像頭的拍攝圖片進行標號，并利用邊緣檢測算法去除相鄰圖片的重疊部分以及邊緣圖片超出模組的部分后再進行拼接處理。

8.根據權利要求6所述的一種利用FPGA和多個PCIe顯卡的模組檢測裝置，其特征在于，第二PCIe顯卡用于所述多幅圖片的模組異常信息檢測，第三PCIe顯卡用于依據所述多幅圖片的異常信息檢測結果對多幅圖片進行Demura修復。