[發明專利]基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法

有效

• 申請號: 201811222344.1
• 申請日: 2018-10-19
• 公開（公告）號: CN109597961B
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: 王振國;李特;金涌濤;王少華;李乃一;劉黎;董雪松;溫典;吳旭翔
• 申請（專利權）人: 國網浙江省電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G06F17/10
• 分類號: G06F17/10
• 代理公司: 浙江翔隆專利事務所(普通合伙) 33206
• 代理人: 張建青

本發明公開了一種基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法。不同傘型絕緣子之間鹽密的換算是現場確定污穢度等級的重要手段，目前，不同傘型絕緣子之間的積污比多采用取算數平均值法或幾何平均值法，上述方法沒有考慮換算結果對污穢度等級判定的影響，產生誤判比例較大。本發明通過分析不同類型絕緣子的鹽密數據，基于設定的折算積污比獲得基準絕緣子的折算污區等級，通過折算積污區等級與實際污區等級的對比分析，得到目標絕緣子對基準絕緣子的積污比，用于污區等級的劃分。本發明考慮了絕緣子積污比對污區等級判別誤差的影響，能夠有效提升現場污區等級判別準確度。

技術領域

本發明涉及不同類型絕緣子之間積污比算法，具體地說是一種基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法。

背景技術

污區等級的確定是線路防污閃的重要工作之一，對于對輸電線路設計、運行維護均有重要意義。污區等級的劃分是確定線路絕緣配置、防污性能、以及防污閃改造周期等保證線路安全穩定運行工作的重要因素。由于早期設置的絕緣子傘型多樣，在非標準型絕緣子區域開展污穢度評估時，通常需要采用積污比將非標準型絕緣子的鹽密值折算為標準絕緣子鹽密值。因此不同傘型絕緣子積污比的準確確定對于污區等級的劃分具有重要意義。

目前積污比的確定通常采用取算數平均值或幾何平均值法。通過測量同塔基準絕緣子和目標絕緣子的鹽密值，計算得到各個測點的積污比，然后對各個測點的積污比取算數平均值或幾何平均值，從而獲得該區域兩種類型絕緣子的積污比。然而該方法通過直接取平均值，未考慮計算得到的積污比對于污區等級判別誤差的影響，應用中產生的污區等級誤判比例較高。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服上述現有技術存在的缺陷，提供一種基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其通過分析兩種傘型絕緣子的鹽密數據，依據污區判別誤差最小的原則確定兩種傘型絕緣子之間的積污比，用于污區等級的劃分。

為此，本發明采用的技術方案如下：基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其包括如下步驟：

a)定義基準絕緣子和目標絕緣子，獲取現場同塔的基準絕緣子和目標絕緣子的積污鹽密實測數據；

b)計算得到各測點的基準絕緣子和目標絕緣子積污比；

c)確定所有測點積污比的最小值和最大值；

d)設定折算積污比，利用所有同塔測點目標絕緣子的鹽密實測數據，計算其在基準絕緣子下的鹽密折算值；

e)利用目標絕緣子的鹽密折算值與基準絕緣子鹽密實測值分別確定污區等級，獲取所有測點目標絕緣子鹽密折算值下的污區等級誤判測點數；

f)重復步驟d)-e)，獲得各折算積污比下的污區等級誤判測點數；

g)尋找污區等級誤判測點數的最小值，其對應的積污比即為待確定的目標絕緣子對基準絕緣子的積污比。

本發明通過分析不同類型絕緣子的鹽密數據，基于設定的折算積污比獲得基準絕緣子的折算污區等級，通過折算積污區等級與實際污區等級的對比分析，得到目標絕緣子對基準絕緣子的積污比。

進一步地，在步驟a)中，基準絕緣子是用來劃分污區等級的絕緣子，目標絕緣子是待求取其與基準絕緣子積污比值的絕緣子，其中基準絕緣子優先選擇標準型絕緣子，如果同塔絕緣子中沒有標準型絕緣子，則選擇雙傘型絕緣子。

進一步地，在步驟b)中，絕緣子積污比的計算方法為目標絕緣子的實測鹽密值除以基準絕緣子的實測鹽密值，其計算公式為：

式中，ESDD₁為目標絕緣子的實測鹽密值，ESDD₂為基準絕緣子實測鹽密值。