[發明專利]基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法

有效

• 申請號: 201811222344.1
• 申請日: 2018-10-19
• 公開（公告）號: CN109597961B
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: 王振國;李特;金涌濤;王少華;李乃一;劉黎;董雪松;溫典;吳旭翔
• 申請（專利權）人: 國網浙江省電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G06F17/10
• 分類號: G06F17/10
• 代理公司: 浙江翔隆專利事務所(普通合伙) 33206
• 代理人: 張建青

1.基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，包括如下步驟：

a)定義基準絕緣子和目標絕緣子，獲取現場同塔的基準絕緣子和目標絕緣子的積污鹽密實測數據；

b)計算得到各測點的基準絕緣子和目標絕緣子積污比；

c)確定所有測點積污比的最小值和最大值；

d)設定折算積污比，利用所有同塔測點目標絕緣子的鹽密實測數據，計算其在基準絕緣子下的鹽密折算值；

e)利用目標絕緣子的鹽密折算值與基準絕緣子鹽密實測值分別確定污區等級，獲取所有測點目標絕緣子鹽密折算值下的污區等級誤判測點數；

f)重復步驟d)-e)，獲得各折算積污比下的污區等級誤判測點數；

g)尋找污區等級誤判測點數的最小值，其對應的積污比即為待確定的目標絕緣子對基準絕緣子的積污比。

2.根據權利要求1所述的基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，步驟a)中，基準絕緣子是用來劃分污區等級的絕緣子，目標絕緣子是待求取其與基準絕緣子積污比值的絕緣子，其中基準絕緣子優先選擇標準型絕緣子，如果同塔絕緣子中沒有標準型絕緣子，則選擇雙傘型絕緣子。

3.根據權利要求1所述的基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，步驟b)中，絕緣子積污比的計算方法為目標絕緣子的實測鹽密值除以基準絕緣子的實測鹽密值，其計算公式為：

式中，ESDD₁為目標絕緣子的實測鹽密值，ESDD₂為基準絕緣子實測鹽密值。

4.根據權利要求1所述的基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，步驟d)中，設定折算積污比K_c＝K₁+ΔK，式中，K₁為步驟c)中確定的積污比最小值，ΔK為折算積污比的修正步長；基于獲得的折算積污比，對所有同塔測點的目標絕緣子鹽密實測數據按照下式折算為基準絕緣子下的鹽密折算值：

式中，ESDD₁為目標絕緣子的實測鹽密值，ESDD_2z為目標絕緣子實測鹽密值折算為基準絕緣子下的鹽密折算值。

5.根據權利要求1所述的基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，步驟e)中，利用步驟a)中獲得的基準絕緣子的實測鹽密值ESDD₂和步驟d)中計算得到的目標絕緣子鹽密折算值ESDD_2z，依據鹽密與污區等級的對應關系，由基準絕緣子實測鹽密值ESDD₂確定真實污區等級H₁，由目標絕緣子鹽密折算值ESDD_2z確定由目標絕緣子折算得到的污區等級H₂，若某個測點H₁、H₂數值不同，則認為該測點存在誤判，進而確定在該設定的積污比Kc下，所有測點的污區等級誤判測點數。

6.根據權利要求1-5任一項所述的基于污區判別準確度的不同傘型絕緣子積污比優化算法，其特征在于，當有多個積污比數值使污區誤判的數量相同時，選取最小的數值。