[發明專利]用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置

在審

• 申請號: 201811214796.5
• 申請日: 2018-10-18
• 公開（公告）號: CN109239475A
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 李曉;陳勉之;高春嘉;齊波;王偉;龐志開;蔡漢賢;張夢慧;郭倩雯;盧學容;羅偉良;黃飛強;鄭方晴
• 申請（專利權）人: 廣州供電局有限公司
• 主分類號: G01R29/14
• 分類號: G01R29/14
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉培培

本發明提供用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，包括殼體、探芯、觸頭和接地端子，殼體上設置有導向結構，探芯滑動設置于導向結構上，殼體與觸頭以及接地端子連接，探芯與觸頭滑動抵接，且探芯活動抵接于接地端子上。通過將探芯抵接于待測物體上以對表面電位進行測量，滑動探芯，使得探芯縮回至殼體上，使得探芯遠離待測物體的表面，避免移動用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置時探芯影響待測物體的表面電位，同時，探芯縮回至殼體上時，探芯抵接于接地端子，釋放探芯上的殘留電位，當再次通過探芯對待測物體進行測試時，能避免探芯上的殘留電位影響下個位置的表面電位，從而進一步地避免探芯影響待測物體的表面電位。

技術領域

本發明涉及電位測量技術領域，特別是涉及用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置。

背景技術

絕緣子表面電位的測量屬于靜電測量的范疇，不能用傳統的電工儀表進行測量。目前，表面電位的測量方法主要包括粉塵圖法，基于泡克爾斯效應的光學測量方法和靜電探頭法。粉塵圖法最初由利希滕貝格于1778年提出，其原理是利用某些帶電的有色固體，如帶正電的紅色的Pb₃O₄，帶負電的白黃色的S，會與絕緣子表面的電荷發生吸附效應，比如負電荷會吸附帶正電的Pb₃O₄，正電荷會吸附帶負電的S。當將這些特殊的固體粉末噴灑在介質表面時，可以根據介質表面的這些固體粉末的顏色分布來判斷介質表面的電位極性及電位分布。其優點是方便、直觀，缺點是不能定量表征表面電位，且在噴灑粉塵過程中，可能改變介質表面的電位分布。泡克爾斯效應光學測量方法即線性電光效應法，對于不具有對稱中心的晶體來說，當其處在電場中時，其折射率的變化與所加的電場強度成正比關系，即在電場不太強時已經表現得比較明顯,因而可以通過測量電場作用下晶體折射率的變化來反映電場的變化，但此方法只適用于透明薄膜，對盆式絕緣子固體表面并不適合。

目前靜電探頭法是目前國際上表面電位測量領域中使用較廣泛的方法。靜電探頭主要由內部感應導體、內部支撐絕緣體和外部接地屏蔽層組成。對絕緣子表面電位進行測量時，將探頭垂直于待測介質表面且距離恒定，絕緣子表面電位會在感應導體上激發感應電壓，可對輸出感應電壓進行測量。當只是考察表面電位的分布規律及影響因素，對不同條件下的實驗結果進行橫向比較時，采用傳統的線性標度方法來計算絕緣子表面電位。

對絕緣固體表面來說，常用的測量方法為靜電電容探頭法，但是由于測量距離的限制，常規的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置在移動過程中距離絕緣固體表面較近的時候，會對表面電位有較大的影響，影響測量數據的準確性。

發明內容

基于此，有必要提供一種用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置。

一種用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，包括殼體、探芯、觸頭和接地端子，所述殼體上設置有導向結構，所述探芯滑動設置于所述導向結構上，所述殼體與所述觸頭以及所述接地端子連接，所述探芯與所述觸頭滑動抵接，且所述探芯活動抵接于所述接地端子上。

上述實施例中的所述用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，通過將探芯抵接于待測物體上以對待測物體上的表面電位進行測量，對待測物體表面橫向的多個點進行測量時，測量完當前位置的表面電位后滑動探芯，使得探芯縮回至殼體上，使得探芯遠離待測物體的表面，避免移動用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置時探芯影響待測物體的表面電位，同時，探芯縮回至殼體上時，探芯抵接于所述接地端子，釋放探芯上的殘留電位，當再次通過探芯對待測物體進行測試時，能避免探芯上的殘留電位影響下個位置的表面電位，從而進一步地避免探芯影響待測物體的表面電位，提升用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置測量表面電位的準確性。

在其中一個實施例中，所述觸頭開設有限位通道，所述探芯穿設于所述限位通道內，且與所述限位通道的側壁滑動抵接。

在其中一個實施例中，還包括絕緣支撐件，所述絕緣支撐件設置于所述殼體上，所述導向結構設置于所述絕緣支撐件上。