[發明專利]用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置

在審

• 申請號: 201811214796.5
• 申請日: 2018-10-18
• 公開（公告）號: CN109239475A
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 李曉;陳勉之;高春嘉;齊波;王偉;龐志開;蔡漢賢;張夢慧;郭倩雯;盧學容;羅偉良;黃飛強;鄭方晴
• 申請（專利權）人: 廣州供電局有限公司
• 主分類號: G01R29/14
• 分類號: G01R29/14
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉培培

1.一種用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，包括殼體、探芯、觸頭和接地端子，所述殼體上設置有導向結構，所述探芯滑動設置于所述導向結構上，所述殼體與所述觸頭以及所述接地端子連接，所述探芯與所述觸頭滑動抵接，且所述探芯活動抵接于所述接地端子上。

2.根據權利要求1所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于,所述觸頭開設有限位通道，所述探芯穿設于所述限位通道內，且與所述限位通道的側壁滑動抵接。

3.根據權利要求1所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，還包括絕緣支撐件，所述絕緣支撐件設置于所述殼體上，所述導向結構設置于所述絕緣支撐件上。

4.根據權利要求3所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，所述導向結構為開設于所述絕緣支撐件的滑動通道，所述探芯穿設于所述滑動通道內，且與所述滑動通道的側壁滑動抵接。

5.根據權利要求4所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，所述絕緣支撐件的外側表面凸起設置有凸塊。

6.根據權利要求1所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，還包括彈性件，所述彈性件的一端與所述殼體連接，所述彈性件的另一端與所述探芯連接。

7.根據權利要求6任一項中所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，所述彈性件為彈簧。

8.根據權利要求1-7任一項中所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，還包括第一電磁鐵和磁性件，所述第一電磁鐵和所述磁性件中的其中一個設置于所述殼體上，另一個設置于所述探芯上，所述第一電磁鐵與所述磁性件相互吸合使所述探芯沿所述導向結構滑動。

9.根據權利要求1-7任一項中所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，還包括屏蔽罩，所述屏蔽罩與所述殼體連接，所述屏蔽罩開設有屏蔽通道，所述探芯至少部分穿設于所述屏蔽通道內。

10.根據權利要求1-7任一項中所述的用于表面電位測量的可伸縮探頭裝置，其特征在于，還包括信號輸出模塊，所述觸頭與所述信號輸出模塊電連接。