[發明專利]屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其測量方法

在審

• 申請號: 201811214279.8
• 申請日: 2018-10-18
• 公開（公告）號: CN109581096A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 應小俊;陳亞南;樊康;石國昌;廖意
• 申請（專利權）人: 上海無線電設備研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海元好知識產權代理有限公司 31323
• 代理人: 張妍;徐雯瓊

一種屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其測量方法，建立矩形開孔屏蔽室屏蔽效能模型，該矩形開孔屏蔽室屏蔽效能模型包含：矩形腔體、設置在矩形腔體上的矩形開孔處的電磁材料網、設置在矩形腔體外部的激勵源、以及設置在矩形腔體中心的場強監測點，獲得矩形開孔屏蔽室屏蔽效能模型的電磁屏蔽材料屏蔽效能，在矩形開孔屏蔽室屏蔽效能模型中矩形腔體的頂面內部安裝吸收介質片，形成具有吸收介質片的屏蔽室屏蔽效能分析模型，獲得具有吸收介質片的屏蔽室屏蔽效能分析模型的電磁屏蔽材料屏蔽效能。本發明通過在屏蔽室內部增加介質結構的方式，降低屏蔽室電磁諧振效應，并顯著降低金屬網屏蔽效能結果的波動性，提高金屬屏蔽材料的屏蔽效能測試精度。

技術領域

本發明涉及無線通信中的電磁兼容設計領域，尤其涉及一種屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其測量方法。

背景技術

電磁屏蔽效能，是指在同一激勵電平下，無屏蔽材料時接收到的功率或場強與有屏蔽材料時接收的功率或場強之比，并以對數表示。屏蔽效能是屏蔽材料的重要性能之一，可以起到對外界電磁波的阻擋抑制作用，包含設備系統不受外界電磁波的干擾。

電磁屏蔽效能測試通常會選擇在較為干凈電磁環境下進行，以減少外界環境對測試的影響。常見的電磁屏蔽效能測試環境包含混響室、半電波暗室，以及全電波暗室暗室。對于電磁屏蔽材料的屏蔽效能測試，包含金屬網、導電薄膜、導電介質板以及導電橡膠板等吸波材料等，通常選擇在屏蔽室進行。測試時將電磁屏蔽材料安裝于屏蔽室預置的窗口，發射天線在屏蔽室外部發射激勵電平，接收天線在屏蔽室內部接收功率或場強。由于屏蔽室通常是一個封閉腔體，會有諧振效應，與電磁屏蔽效能基本定義要求的環境有偏差，導致測試結果不是真實電磁屏蔽材料的屏蔽效能，而是屏蔽室與電磁屏蔽材料的整體屏蔽效能，不能滿足實際要求。

發明內容

本發明提供一種屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其測量方法，通過在屏蔽室內部增加介質結構的方式，降低屏蔽室電磁諧振效應，并顯著降低金屬網屏蔽效能結果的波動性，提高金屬屏蔽材料的屏蔽效能測試精度。

為了達到上述目的，本發明提供一種屏蔽室屏蔽效能分析模型，包含：

矩形腔體，該矩形腔體的其中一面上具有矩形開孔；

電磁材料網，其設置在矩形腔體上的矩形開孔處；

吸收介質片，其設置在矩形腔體的內部，提高了矩形腔體內部的場強損耗，降低了矩形腔體諧振效應對屏蔽效能的影響；

激勵源，其設置在矩形腔體外部，面對矩形腔體上的矩形開孔處發射均勻的平面波；

場強監測點，其設置在矩形腔體中心，用于監測矩形腔體中心處的電場值。

所述的吸收介質片的數量大于等于1。

所述的激勵源、矩形開孔中心、電磁材料網中心、以及場強監測點等高，全部位于同一直線上。

所述的激勵源發射的平面波的入射方向垂直于矩形腔體上具有矩形開孔的一面，電場方向與矩形腔體高的方向平行。

所述的電磁材料網的尺寸與矩形腔體上的矩形開孔的尺寸一致。

本發明還提供一種屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能測量方法，包含以下步驟：

步驟S1、建立矩形開孔屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型，獲得電磁屏蔽材料的屏蔽效能；

步驟S2、建立具有吸收介質片的屏蔽室下金屬屏蔽材料屏蔽效能分析模型，獲得電磁屏蔽材料的屏蔽效能。

所述的步驟S1包含以下步驟：