[發明專利]距離測定裝置

在審

• 申請號: 201811207982.6
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN109696687A
• 公開（公告）日: 2019-04-30
• 發明（設計）人: 古賀稔浩;日比野清司;春口隆;井手和久;井上雅臣;椎原正浩;梅林功一;熊丸康一
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/487
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 韓丁

1.一種距離測定裝置，具備：

光源，射出測距用的投射光；

光檢測器，對從測距區域反射的反射光進行受光；和

控制器，

所述控制器在一個測距動作時，以不同的多個時間間隔，從所述光檢測器接收至少一個檢測結果，并且基于所述檢測結果，來計算到被照射所述投射光的物體為止的距離。

2.一種距離測定裝置，具備：

光源，射出測距用的投射光；

光檢測器，對從測距區域反射的反射光進行受光；和

控制器，

所述控制器在一個測距動作時，基于從所述光檢測器輸出的檢測信號，執行檢測物體處于遠距離的情況下的受光定時的遠距離例程、和檢測物體處于近距離的情況下的受光定時的近距離例程，

選擇基于所述遠距離例程的所述受光定時的檢測結果和基于所述近距離例程的所述受光定時的檢測結果的任意一個，

基于選擇的所述檢測結果，計算到被照射所述投射光的物體為止的距離。

3.根據權利要求2所述的距離測定裝置，其中，

所述控制器在一個測距動作時，分別執行多次所述遠距離例程和所述近距離例程，選擇所述受光定時的檢測數較多的例程的所述檢測結果來作為距離計算用的檢測結果。

4.根據權利要求3所述的距離測定裝置，其中，

所述控制器將選擇的所述例程的所述檢測結果的平均值作為所述反射光的受光定時，來計算到所述物體的距離。

5.根據權利要求2所述的距離測定裝置，其中，

在所述遠距離例程中，所述控制器將為了檢測所述受光定時而應用于所述檢測信號的閾值設定為比所述近距離例程低，

執行將基于所述投射光的內部雜散光入射到所述光檢測器而產生的所述檢測信號的變化從所述受光定時的檢測對象中去除的屏蔽處理。

6.根據權利要求5所述的距離測定裝置，其中，

在所述屏蔽處理中，所述控制器將屏蔽時間設定為至少包含所述內部雜散光的出現期間，在所述檢測信號超過所述閾值的定時包含于所述屏蔽時間的情況下，將該定時設為所述受光定時的檢測對象之外。

7.根據權利要求2至6的任意一項所述的距離測定裝置，其中，

在所述遠距離例程以及所述近距離例程中，所述控制器在所述投射光被投射后的經過時間達到要進行測距的距離范圍的最大值所對應的上限時間為止的期間，不能檢測出所述反射光的受光定時的情況下，結束所述遠距離例程以及所述近距離例程。