[發明專利]測試機臺自檢系統及檢測方法

有效

• 申請號: 201811195848.9
• 申請日: 2018-10-15
• 公開（公告）號: CN111044961B
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 吳茂祥
• 申請（專利權）人: 吳茂祥
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

本發明提供了一種測試機臺自檢系統及檢測方法，所述測試機臺自檢系統包括：一檢測電路，供設于所述測試機臺及供測試一電子產品的電路結構；一標準電阻，具有一標準電阻值，電性連接所述檢測電路以形成一自檢電路；一電壓檢測單元，電性連接所述自檢電路；其中，當輸電至所述自檢電路時，所述電壓檢測單元取得所述自檢電路的一測試電壓值，所述電壓檢測單元依據所述測試電壓值計算所述標準電阻的一測試電阻值，所述電壓檢測單元并依據所述標準電阻值及所述測試電阻值判斷所述檢測電路的一檢測結果。

技術領域

本發明與測試機臺檢測有關，特別是有關于一種測試機臺自檢系統及檢測方法。

背景技術

在電路板的制造過程中，為保證所制造的產品品質，通常會進行電性表現的測試，以確保所述產品的電路結構沒有開路、短路或其他損壞的狀況。然，當測試機臺故障時，常會造成檢測結果的誤判，造成龐大的成本損失。部分測試機臺雖具有自我檢測功能，但其多為機臺內部各部件的性能檢測，執行時間長且耗費人力。此外，公知的測試機臺的自我檢測通常僅于產品測試前執行一次，當發現測試機臺故障時常難以追溯故障的起始點，存在亟待改善的缺點。

因此，有必要提供一種新穎且具有進步性的測試機臺自檢系統及檢測方法，以解決上述的問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種測試機臺自檢系統及檢測方法，可快速進行自我檢測。

為達成上述目的，本發明提供一種測試機臺自檢系統，包括：一檢測電路，供設于所述測試機臺及供測試一電子產品的電路結構；一標準電阻，具有一標準電阻值，電性連接所述檢測電路以形成一自檢電路；一電壓檢測單元，電性連接所述自檢電路；其中，當輸電至所述自檢電路時，所述電壓檢測單元取得所述自檢電路的一測試電壓值，所述電壓檢測單元依據所述測試電壓值計算所述標準電阻的一測試電阻值，所述電壓檢測單元并依據所述標準電阻值及所述測試電阻值判斷所述檢測電路的一檢測結果。

具體的，作為上述方案的優選，所述自檢電路包括一開路測試回路及一短路測試回路，所述電壓檢測單元電性連接所述開路測試回路及所述短路測試回路，所述電壓檢測單元可選擇性地切換以使所述標準電阻僅與所述開路測試回路或所述短路測試回路電性導通，其中所述標準電阻與所述開路測試回路或所述短路測試回路串連。

作為上述方案的優選，所述自檢電路另包括一四端點電阻測量測試回路，所述電壓檢測單元可選擇性地切換以使所述標準電阻僅與所述四端點電阻測量測試回路形成串聯連接。

作為上述方案的優選，所述標準電阻內建于所述測試機臺的數位可程式化標準電阻。

為達成上述目的，本發明另提供一種測試機臺檢測方法，包括以下步驟：輸電至所述自檢電路；以所述電壓檢測單元取得所述自檢電路的測試電壓值；以所述電壓檢測單元依據所述測試電壓值計算所述標準電阻的測試電阻值；以所述電壓檢測單元依據所述標準電阻值及所述測試電阻值判斷所述檢測電路的所述檢測結果。

具體的，作為上述方案的優選，以定電流或定電壓輸電至所述自檢電路。

作為上述方案的優選，所述方法依序包括以下步驟：定電流輸電至所述自檢電路進行所述自檢電路的開路測試以取得所述測試電阻值，并判斷所述檢測電路的一開路檢測結果；定電壓輸低壓電至所述自檢電路進行所述自檢電路的低壓短路測試以取得所述測試電阻值，并判斷所述檢測電路的一低壓短路檢測結果；定電壓輸高壓電至所述自檢電路進行所述自檢電路的高壓短路測試以取得所述測試電阻值，并判斷所述檢測電路的一高壓短路檢測結果，其中所述高壓電定義為相對高壓于所述低壓電。

作為上述方案的優選，另于所述開路測試后或所述高壓短路測試后，定電流輸電至所述自檢電路進行所述自檢電路的四端點電阻測量測試以取得所述測試電阻值，并判斷所述檢測電路的一四端點電阻測量檢測結果。