[發(fā)明專利]測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)及檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811195848.9
• 申請(qǐng)日: 2018-10-15
• 公開（公告）號(hào): CN111044961B
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳茂祥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 吳茂祥
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00
• 代理公司: 北京北新智誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

1.一種測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)，其特征在于，包括：

一檢測(cè)電路，供設(shè)于所述測(cè)試機(jī)臺(tái)及供測(cè)試一電子產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)；

一標(biāo)準(zhǔn)電阻，具有一標(biāo)準(zhǔn)電阻值，電性連接所述檢測(cè)電路以形成一自檢電路；

一電壓檢測(cè)單元，電性連接所述自檢電路；

其中，當(dāng)輸電至所述自檢電路時(shí)，所述電壓檢測(cè)單元取得所述自檢電路的一測(cè)試電壓值，所述電壓檢測(cè)單元依據(jù)所述測(cè)試電壓值計(jì)算所述標(biāo)準(zhǔn)電阻的一測(cè)試電阻值，所述電壓檢測(cè)單元并依據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電阻值及所述測(cè)試電阻值判斷所述檢測(cè)電路的一檢測(cè)結(jié)果；

其中，所述標(biāo)準(zhǔn)電阻內(nèi)建于所述測(cè)試機(jī)臺(tái)；在對(duì)所述測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行開路檢測(cè)或低壓短路檢測(cè)或高壓短路檢測(cè)時(shí)，所述自檢電路與所述電子產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)不導(dǎo)通。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)，其特征在于，所述自檢電路包括一開路測(cè)試回路及一短路測(cè)試回路，所述電壓檢測(cè)單元電性連接所述開路測(cè)試回路及所述短路測(cè)試回路，所述電壓檢測(cè)單元可選擇性地切換以使所述標(biāo)準(zhǔn)電阻僅與所述開路測(cè)試回路或所述短路測(cè)試回路電性導(dǎo)通，其中所述標(biāo)準(zhǔn)電阻與所述開路測(cè)試回路或所述短路測(cè)試回路串連。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)，其其特征在于，所述自檢電路另包括一四端點(diǎn)電阻測(cè)量測(cè)試回路，所述電壓檢測(cè)單元可選擇性地切換以使所述標(biāo)準(zhǔn)電阻僅與所述四端點(diǎn)電阻測(cè)量測(cè)試回路形成串聯(lián)連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)電阻是數(shù)位可程式化標(biāo)準(zhǔn)電阻。

5.一種利用根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)自檢系統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

輸電至所述自檢電路；

以所述電壓檢測(cè)單元取得所述自檢電路的測(cè)試電壓值；

以所述電壓檢測(cè)單元依據(jù)所述測(cè)試電壓值計(jì)算所述標(biāo)準(zhǔn)電阻的測(cè)試電阻值；

以所述電壓檢測(cè)單元依據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)電阻值及所述測(cè)試電阻值判斷所述檢測(cè)電路的所述檢測(cè)結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，以定電流或定電壓輸電至所述自檢電路。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法依序包括以下步驟：定電流輸電至所述自檢電路進(jìn)行所述自檢電路的開路測(cè)試以取得所述測(cè)試電阻值，并判斷所述檢測(cè)電路的一開路檢測(cè)結(jié)果；

定電壓輸?shù)蛪弘娭了鲎詸z電路進(jìn)行所述自檢電路的低壓短路測(cè)試以取得所述測(cè)試電阻值，并判斷所述檢測(cè)電路的一低壓短路檢測(cè)結(jié)果；

定電壓輸高壓電至所述自檢電路進(jìn)行所述自檢電路的高壓短路測(cè)試以取得所述測(cè)試電阻值，并判斷所述檢測(cè)電路的一高壓短路檢測(cè)結(jié)果，其中所述高壓電定義為相對(duì)高壓于所述低壓電。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，另于所述開路測(cè)試后或所述高壓短路測(cè)試后，定電流輸電至所述自檢電路進(jìn)行所述自檢電路的四端點(diǎn)電阻測(cè)量測(cè)試以取得所述測(cè)試電阻值，并判斷所述檢測(cè)電路的一四端點(diǎn)電阻測(cè)量檢測(cè)結(jié)果。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，另分別于所述開路測(cè)試、所述低壓短路測(cè)試及所述高壓短路測(cè)試之后進(jìn)行所述電子產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)的開路測(cè)試、低壓短路測(cè)試及高壓短路測(cè)試。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試機(jī)臺(tái)檢測(cè)方法，其特征在于，另分別于所述開路測(cè)試、所述低壓短路測(cè)試、所述高壓短路測(cè)試及所述自檢電路的四端點(diǎn)電阻測(cè)量測(cè)試之后進(jìn)行所述電子產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)的開路測(cè)試、低壓短路測(cè)試、高壓短路測(cè)試及四端點(diǎn)電阻測(cè)量測(cè)試。