[發(fā)明專利]包括用于檢測(cè)字線缺陷的電路的存儲(chǔ)裝置及其操作方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811152590.4
• 申請(qǐng)日: 2018-09-29
• 公開（公告）號(hào): CN109712664A
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李在潤;權(quán)俊秀;金炳秀;金水龍;樸商秀;樸一漢;李康斌;李宗勛;崔那榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 三星電子株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G11C29/12
• 分類號(hào): G11C29/12;G11C29/30;G11C29/00;G11C16/12
• 代理公司: 北京市立方律師事務(wù)所 11330
• 代理人: 李娜

提供了一種包括用于檢測(cè)字線缺陷的電路的存儲(chǔ)裝置及其操作方法。所述存儲(chǔ)裝置包括：存儲(chǔ)單元陣列，其包括設(shè)置在襯底上的第一存儲(chǔ)單元和位于第一存儲(chǔ)單元上方的第二存儲(chǔ)單元；連接到第一存儲(chǔ)單元的第一字線和連接到第二存儲(chǔ)單元的第二字線，第二字線設(shè)置在第一字線上方；以及字線缺陷檢測(cè)電路，其被配置為在將第一電壓施加到第一字線時(shí)監(jiān)測(cè)泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的數(shù)目以檢測(cè)第一字線的缺陷。電壓發(fā)生器被配置為當(dāng)泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的數(shù)目小于基準(zhǔn)值時(shí)，將與第一電壓不同的第二電壓施加到第二字線以對(duì)第二存儲(chǔ)單元進(jìn)行編程。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求于2017年10月26日在韓國知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的韓國專利申請(qǐng)No.10-2017-0140000的優(yōu)先權(quán)，其公開內(nèi)容通過引用整體并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及一種包括用于檢測(cè)字線缺陷的電路的存儲(chǔ)裝置及其操作方法。

背景技術(shù)

存儲(chǔ)裝置是可以存儲(chǔ)數(shù)據(jù)并且可以在需要時(shí)讀取數(shù)據(jù)的貯存裝置。存儲(chǔ)裝置可以粗略地分類為非易失性存儲(chǔ)器(NVM)和易失性存儲(chǔ)器(VM)，在非易失性存儲(chǔ)器中，即使在未被供電時(shí)，所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)也不消失，在易失性存儲(chǔ)器中，當(dāng)未被供電時(shí)，所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)消失。

為了控制在存儲(chǔ)裝置中設(shè)置的多個(gè)存儲(chǔ)單元，可以在存儲(chǔ)裝置內(nèi)部設(shè)置并使用各種布線。這些布線的示例可以包括與存儲(chǔ)單元連接的位線和字線。

隨著存儲(chǔ)裝置的尺寸越來越小型化，在其中布置的布線之間的間隔也變窄。因此，可能發(fā)生各種缺陷，比如將彼此絕緣的布線發(fā)生電連接的橋接缺陷。由于這些缺陷導(dǎo)致存儲(chǔ)裝置的操作性能劣化，因此需要進(jìn)行改善缺陷的研究。

發(fā)明內(nèi)容

本公開的一方面提供了一種具有改善的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)可靠性和操作性能的存儲(chǔ)裝置。

本公開的另一方面提供了一種用于操作具有改善的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)可靠性和操作性能的存儲(chǔ)裝置的方法。

根據(jù)本公開的一些方面，提供了一種存儲(chǔ)裝置。所述存儲(chǔ)裝置包括：存儲(chǔ)單元陣列，所述存儲(chǔ)單元陣列包括設(shè)置在襯底上的第一存儲(chǔ)單元和在第一存儲(chǔ)單元上方的第二存儲(chǔ)單元；連接到所述第一存儲(chǔ)單元的第一字線和連接到所述第二存儲(chǔ)單元的第二字線，所述第二字線設(shè)置在所述第一字線上方；時(shí)鐘發(fā)生器，所述時(shí)鐘發(fā)生器被配置為當(dāng)泵激電壓低于基準(zhǔn)泵激電壓時(shí)生成泵激時(shí)鐘信號(hào)；電壓發(fā)生器，所述電壓發(fā)生器被配置為響應(yīng)于所述泵激時(shí)鐘信號(hào)生成所述泵激電壓，并基于泵激電壓生成第一電壓和與所述第一電壓不同的第二電壓；以及字線缺陷檢測(cè)電路，所述字線缺陷檢測(cè)電路被配置為在將所述第一電壓施加到所述第一字線時(shí)監(jiān)測(cè)所述泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的數(shù)目以檢測(cè)第一字線的缺陷。所述電壓發(fā)生器被配置為當(dāng)所述泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的數(shù)目小于基準(zhǔn)值時(shí)將所述第二電壓施加到所述第二字線以對(duì)所述第二存儲(chǔ)單元進(jìn)行編程。

根據(jù)本公開的一些方面，提供了一種用于操作存儲(chǔ)裝置的方法。用于操作存儲(chǔ)裝置的所述方法包括：提供存儲(chǔ)單元陣列，所述存儲(chǔ)單元陣列包括設(shè)置在襯底上的第一存儲(chǔ)單元、連接到所述第一存儲(chǔ)單元的第一字線、設(shè)置在所述第一存儲(chǔ)單元上方的第二存儲(chǔ)單元、以及設(shè)置在所述第一字線上方并連接到所述第二存儲(chǔ)單元的第二字線；當(dāng)泵激電壓低于基準(zhǔn)泵激電壓時(shí)生成泵激時(shí)鐘信號(hào)；響應(yīng)于所述泵激時(shí)鐘信號(hào)生成泵激電壓，基于所述泵激電壓生成第一電壓且生成與所述第一電壓不同的第二電壓；通過在將所述第一電壓施加到所述第一字線時(shí)監(jiān)測(cè)所述泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的第一數(shù)目來檢測(cè)第一字線的缺陷；當(dāng)所述泵激時(shí)鐘信號(hào)的脈沖的第一數(shù)目小于第一基準(zhǔn)值時(shí)，通過將所述第二電壓施加到所述第二字線來對(duì)第二存儲(chǔ)單元進(jìn)行編程。