[發(fā)明專利]工件表面損傷修復(fù)方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811152167.4 | 申請日: | 2018-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN108911532B | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金會良;李亞國;許喬;劉志超;袁志剛;歐陽升;王度;耿鋒;張清華;王健 | 申請(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號: | C03C23/00 | 分類號: | C03C23/00 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吳開磊 |
| 地址: | 610000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 工件 表面 損傷 修復(fù) 方法 系統(tǒng) | ||
本申請?zhí)峁┮环N工件表面損傷修復(fù)方法及系統(tǒng),涉及光學(xué)元件加工技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括:將激光聚焦到待修復(fù)工件表面;將聚焦激光的光斑在待修復(fù)工件表面移動以掃描整個待修復(fù)工件表面,以使激光能量作用于待修復(fù)工件表面使待修復(fù)工件表面產(chǎn)生熱效應(yīng),以熔合待修復(fù)工件表面的微裂紋損傷層,生成微裂紋熔合層;向待修復(fù)工件表面輸出等離子體射流;控制等離子體射流在待修復(fù)工件表面運動,以去微裂紋熔合層。本申請利用微裂紋的熔合來改善所述待修復(fù)工件表面的裂紋深度、分布等初始狀態(tài),再利用等離子體射流對熔合改善后的微裂紋熔合層進(jìn)行快速去除,提高了工件的壽命,也提高了工件的可靠性和使用性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及光學(xué)元件加工技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種工件表面損傷修復(fù)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前,在對光學(xué)元件進(jìn)行加工制造的過程中,主要采用超精密磨削成型技術(shù),來實現(xiàn)光學(xué)元件表面的面形精度收斂。超精密磨削成型技術(shù)主要是以脆性斷裂的形式實現(xiàn)材料的去除,在超精密磨削成型的過程中,光學(xué)元件的面形能夠基本成型,但容易產(chǎn)生表面微裂紋損傷。
表面微裂紋損傷不僅會影響后續(xù)鍍膜質(zhì)量,并且在高功率、短脈沖激光等高沖擊載荷作用下,表面損傷會產(chǎn)生局部能量集中,從而引發(fā)光學(xué)元件抗激光損傷閾值下降而產(chǎn)生元件宏觀破壞,導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)壽命、可靠性以及使用性能下降。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請實施例的目的在于提供一種工件表面損傷修復(fù)方法及系統(tǒng)。
第一方面,本申請實施例提供一種工件表面損傷修復(fù)方法,所述方法包括:
將激光聚焦到待修復(fù)工件表面;
將聚焦激光的光斑在所述待修復(fù)工件表面移動以掃描整個所述待修復(fù)工件表面,以使激光能量作用于所述待修復(fù)工件表面使所述待修復(fù)工件表面產(chǎn)生熱效應(yīng),以熔合所述待修復(fù)工件表面的微裂紋損傷層,生成微裂紋熔合層;
向所述待修復(fù)工件表面輸出等離子體射流;
控制所述等離子體射流在所述待修復(fù)工件表面運動,以去所述微裂紋熔合層。
可選地,向所述待修復(fù)工件表面輸出等離子體射流的步驟之后,所述方法還包括:
檢測預(yù)設(shè)時間內(nèi),所述等離子體射流靜止作用于所述待修復(fù)工件表面形成的蝕點深度及蝕點面積;
檢測所述微裂紋熔合層的面積及深度;
根據(jù)所述蝕點深度、蝕點面積、所述微裂紋熔合層的面積及深度,得到所述等離子體射流的運動函數(shù)。
可選地,控制所述等離子體射流在所述待修復(fù)工件表面運動的步驟,具體包括:
根據(jù)所述運動函數(shù),控制所述等離子體射流在所述待修復(fù)工件表面運動。
第二方面,本申請實施例還提供一種工件表面損傷修復(fù)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
夾持部件,用于固定待修復(fù)工件;
聚焦器,用于將激光聚焦到待修復(fù)工件表面;
掃描振鏡,用于將聚焦激光的光斑在所述待修復(fù)工件表面移動以掃描整個所述待修復(fù)工件表面,以使激光能量作用于所述待修復(fù)工件表面使所述待修復(fù)工件表面產(chǎn)生熱效應(yīng),以熔合所述待修復(fù)工件表面的微裂紋損傷層,生成微裂紋熔合層;
等離子體發(fā)生器,用于產(chǎn)生等離子體射流,并向所述待修復(fù)工件表面輸出所述等離子體射流;
傳動部件,用于控制所述夾持部件帶動所述待修復(fù)工件表面相對于所述等離子體射流運動,以去除所述微裂紋熔合層。
可選地,所述系統(tǒng)還包括:
檢測器,用于獲取預(yù)設(shè)時間內(nèi),所述等離子體射流靜止作用于所述待修復(fù)工件表面形成的蝕點深度及蝕點面積;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國工程物理研究院激光聚變研究中心,未經(jīng)中國工程物理研究院激光聚變研究中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811152167.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





