[發(fā)明專利]一種非接觸智能卡讀卡終端及其工作方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811150685.2
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號(hào): CN109325375A
• 公開（公告）日: 2019-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陸舟;于華章
• 申請（專利權(quán)）人: 飛天誠信科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06K7/00
• 分類號(hào): G06K7/00;G06K7/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種非接觸智能卡讀卡終端的工作方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1：讀卡終端通過配置電容組的組合進(jìn)行場強(qiáng)測試，記錄所有通過配置電容組的組合進(jìn)行場強(qiáng)測試得到的測試場強(qiáng)和與得到的所有測試場強(qiáng)分別相對(duì)應(yīng)的配置值；從所有測試場強(qiáng)中選擇出最大測試場強(qiáng)；

步驟S2：所述讀卡終端保存與所述最大測試場強(qiáng)相對(duì)應(yīng)的配置值或者配置與所述最大測試場強(qiáng)相對(duì)應(yīng)的電容組的組合。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S1中，所述配置電容組的組合，具體為：所述讀卡終端根據(jù)配置值控制電容組的組合的連通與斷開；

所述步驟S2中，所述配置與所述最大測試場強(qiáng)相對(duì)應(yīng)的電容組的組合，具體為：所述讀卡終端根據(jù)與所述最大測試場強(qiáng)對(duì)應(yīng)的配置值控制電容組的組合的連通與斷開。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述讀卡終端僅包括第一電容組；

所述步驟S1具體包括：

步驟A1：所述讀卡終端控制第一電容組的斷開，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第零測試場強(qiáng)，記錄所述第零測試場強(qiáng)和與所述第零測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟A2：所述讀卡終端控制所述第一電容組的連通，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第一測試場強(qiáng)，記錄所述第一測試場強(qiáng)和與所述第一測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟A3：所述讀卡終端比較所述第零測試場強(qiáng)和所述第一測試場強(qiáng)的大小，當(dāng)所述第一測試場強(qiáng)大于所述第零測試場強(qiáng)時(shí)，所述第一測試場強(qiáng)是最大測試場強(qiáng)，執(zhí)行步驟S2；當(dāng)所述第零測試場強(qiáng)大于或者等于所述第一測試場強(qiáng)時(shí)，所述第零測試場強(qiáng)是最大測試場強(qiáng)，執(zhí)行步驟S2。

4.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述讀卡終端包括第一電容組和第二電容組；

所述步驟S1具體包括以下步驟：

步驟B1：所述讀卡終端控制所述第一電容組和所述第二電容組的斷開，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第零測試場強(qiáng)，記錄所述第零測試場強(qiáng)和與所述第零測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟B2：所述讀卡終端控制所述第一電容組的連通，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第一測試場強(qiáng)，記錄所述第一測試場強(qiáng)和與所述第一測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟B3：所述讀卡終端控制所述第一電容組的斷開和所述第二電容組的連通，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第二測試場強(qiáng)，記錄所述第二測試場強(qiáng)和與所述第二測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟B4：所述讀卡終端控制所述第一電容組的連通，進(jìn)行場強(qiáng)測試得到第三測試場強(qiáng)，記錄所述第三測試場強(qiáng)和與所述第三測試場強(qiáng)相應(yīng)對(duì)的配置值；

步驟B5：所述讀卡終端比較所述第零測試場強(qiáng)、所述第一測試場強(qiáng)、所述第二測試場強(qiáng)和所述第三測試場強(qiáng)的大小，從所述第零測試場強(qiáng)、所述第一測試場強(qiáng)、所述第二測試場強(qiáng)和所述第三測試場強(qiáng)中選擇出最大測試場強(qiáng)，執(zhí)行步驟S2。