[發明專利]一種芯片復位電路、復位方法及MCU芯片

有效

• 申請號: 201811147316.8
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號: CN109407807B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 劉桂蓉;趙啟山;陳光勝
• 申請（專利權）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G06F1/24
• 分類號: G06F1/24;G06F11/07;G06F15/78
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍;吳敏

1.一種芯片復位電路，其特征在于，包括：

讀取及校驗電路，適于讀取所述芯片的存儲器，以獲取所述存儲器內存儲的配置信息和校驗信息，并利用所述校驗信息校驗所述配置信息，當校驗失敗時反復讀取所述存儲器并進行校驗，直至所述配置信息全部校驗成功；

在所述配置信息全部校驗成功后，所述芯片進入正常工作模式；

復位控制電路，適于在所述讀取及校驗電路校驗失敗時，生成芯片復位信號，所述芯片復位信號用于復位所述芯片的內部模塊；

數據緩沖寄存器加載電路，適于在所述配置信息全部校驗成功時，將所述配置信息和校驗信息加載至所述芯片的數據緩沖寄存器；

監控電路，適于監控所述數據緩沖寄存器中的配置信息和校驗信息，并根據監控結果控制所述讀取及校驗電路是否重新讀取所述存儲器；若所述監控結果表明所述數據緩沖寄存器中的配置信息校驗失敗，則所述復位控制電路再次生成所述芯片復位信號，以復位所述芯片的內部模塊，所述監控電路控制所述讀取及校驗電路重新讀取所述存儲器中的所述配置信息和校驗信息。

2.根據權利要求1所述的芯片復位電路，其特征在于，所述配置信息包括用戶配置信息和系統配置信息，所述存儲器包括可擦寫信息區和不可擦寫信息區，所述用戶配置信息存儲于所述可擦寫信息區，所述系統配置信息存儲于所述不可擦寫信息區。

3.根據權利要求1所述的芯片復位電路，其特征在于，所述校驗信息與配置信息滿足反碼校驗邏輯。

4.根據權利要求1所述的芯片復位電路，其特征在于，所述存儲器為非易失性存儲器。

5.一種MCU芯片，其特征在于，包括：存儲器，以及權利要求1至4任一項所述的芯片復位電路。

6.一種芯片復位方法，其特征在于，包括如下步驟：

讀取所述芯片的存儲器，以獲取所述存儲器內存儲的配置信息和校驗信息，并利用所述校驗信息校驗所述配置信息；

當校驗失敗時反復讀取所述存儲器并進行校驗，直至所述配置信息全部校驗成功，并且在校驗失敗時，生成芯片復位信號，所述芯片復位信號用于復位所述芯片的內部模塊；在所述配置信息全部校驗成功后，所述芯片進入正常工作模式；

當所述配置信息全部校驗成功時，將所述配置信息和校驗信息加載至所述芯片的數據緩沖寄存器；

監控所述數據緩沖寄存器中的配置信息和校驗信息，并根據監控結果確定是否重新讀取所述存儲器；若所述監控結果表明所述數據緩沖寄存器中的配置信息校驗失敗，則再次復位所述芯片的內部模塊，并重新讀取所述存儲器中的所述配置信息和校驗信息。

7.根據權利要求6所述的芯片復位方法，其特征在于，所述配置信息包括用戶配置信息和系統配置信息，所述存儲器包括可擦寫信息區和不可擦寫信息區，所述用戶配置信息存儲于所述可擦寫信息區，所述系統配置信息存儲于所述不可擦寫信息區。

8.根據權利要求6所述的芯片復位方法，其特征在于，所述校驗信息與配置信息滿足反碼校驗邏輯。

9.根據權利要求6所述的芯片復位方法，其特征在于，所述存儲器為非易失性存儲器。