[發(fā)明專(zhuān)利]一種芯片復(fù)位電路、復(fù)位方法及MCU芯片

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811147316.8
• 申請(qǐng)日: 2018-09-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109407807B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉桂蓉;趙啟山;陳光勝
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F1/24
• 分類(lèi)號(hào): G06F1/24;G06F11/07;G06F15/78
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍;吳敏

本發(fā)明涉及一種芯片復(fù)位電路、復(fù)位方法及MCU芯片，所述芯片復(fù)位電路包括：讀取及校驗(yàn)電路，適于讀取所述芯片的存儲(chǔ)器，以獲取所述存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)的配置信息和校驗(yàn)信息，并利用所述校驗(yàn)信息校驗(yàn)所述配置信息，當(dāng)校驗(yàn)失敗時(shí)反復(fù)讀取所述存儲(chǔ)器并進(jìn)行校驗(yàn)，直至所述配置信息全部校驗(yàn)成功；復(fù)位控制電路，適于在所述讀取及校驗(yàn)電路校驗(yàn)失敗時(shí)，生成芯片復(fù)位信號(hào)，所述芯片復(fù)位信號(hào)用于復(fù)位所述芯片的內(nèi)部模塊。本發(fā)明技術(shù)方案能夠有效加載芯片配置信息。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片復(fù)位電路、復(fù)位方法及MCU芯片。

背景技術(shù)

微控制器(Micro-Controller Unit，MCU)芯片的配置信息通常是預(yù)先存儲(chǔ)于MCU芯片內(nèi)部的，用于配置芯片功能模塊以及芯片工作模式的全局性控制信息。當(dāng)MCU芯片在上電復(fù)位后，芯片可以根據(jù)預(yù)先存儲(chǔ)于芯片內(nèi)部的配置信息，相應(yīng)地配置芯片內(nèi)部模塊或者將芯片置于相應(yīng)的工作模式。

現(xiàn)有的用于MCU芯片的配置信息加載的復(fù)位電路通常由模擬器件構(gòu)成，該復(fù)位電路可以產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)，對(duì)芯片進(jìn)行復(fù)位，芯片根據(jù)該復(fù)位信號(hào)的狀態(tài)，進(jìn)行配置信息的加載。該復(fù)位電路對(duì)電源上電時(shí)序要求比較高，快速上電容易產(chǎn)生過(guò)窄的復(fù)位脈沖，無(wú)法有效的復(fù)位芯片，進(jìn)而影響了配置信息的有效加載，導(dǎo)致芯片不能正常工作，可靠性差。另外，現(xiàn)有的用于MCU芯片的配置信息加載的復(fù)位電路在讀取及校驗(yàn)配置信息后，如果由于校驗(yàn)失敗導(dǎo)致配置信息無(wú)法有效加載，則芯片就會(huì)一直處于復(fù)位狀態(tài)，導(dǎo)致芯片不能進(jìn)入正常工作模式。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題是如何提供一種能夠有效加載芯片配置信息的復(fù)位電路。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種芯片復(fù)位電路，所述芯片復(fù)位電路包括：讀取及校驗(yàn)電路，適于讀取所述芯片的存儲(chǔ)器，以獲取所述存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)的配置信息和校驗(yàn)信息，并利用所述校驗(yàn)信息校驗(yàn)所述配置信息，當(dāng)校驗(yàn)失敗時(shí)反復(fù)讀取所述存儲(chǔ)器并進(jìn)行校驗(yàn)，直至所述配置信息全部校驗(yàn)成功；復(fù)位控制電路，適于在所述讀取及校驗(yàn)電路校驗(yàn)失敗時(shí)，生成芯片復(fù)位信號(hào)，所述芯片復(fù)位信號(hào)用于復(fù)位所述芯片的內(nèi)部模塊。

可選的，所述芯片復(fù)位電路還包括：數(shù)據(jù)緩沖寄存器加載電路，適于在所述配置信息全部校驗(yàn)成功時(shí)，將所述配置信息和校驗(yàn)信息加載至所述芯片的數(shù)據(jù)緩沖寄存器。

可選的，所述芯片復(fù)位電路還包括：監(jiān)控電路，適于監(jiān)控所述數(shù)據(jù)緩沖寄存器中的配置信息和校驗(yàn)信息，并根據(jù)監(jiān)控結(jié)果控制所述讀取及校驗(yàn)電路是否重新讀取所述存儲(chǔ)器；若所述監(jiān)控結(jié)果表明所述數(shù)據(jù)緩沖寄存器中的配置信息校驗(yàn)失敗，則所述復(fù)位控制電路再次生成所述芯片復(fù)位信號(hào)，以復(fù)位所述芯片的內(nèi)部模塊；所述監(jiān)控電路控制所述讀取及校驗(yàn)電路重新讀取所述存儲(chǔ)器中的所述配置信息和校驗(yàn)信息。

可選的，所述配置信息包括用戶配置信息和系統(tǒng)配置信息，所述存儲(chǔ)器包括可擦寫(xiě)信息區(qū)和不可擦寫(xiě)信息區(qū)，所述用戶配置信息存儲(chǔ)于所述可擦寫(xiě)信息區(qū)，所述系統(tǒng)配置信息存儲(chǔ)于所述不可擦寫(xiě)信息區(qū)。

可選的，所述校驗(yàn)信息與配置信息滿足反碼校驗(yàn)邏輯。

可選的，所述存儲(chǔ)器為非易失性存儲(chǔ)器。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種MCU芯片，所述MCU芯片包括：存儲(chǔ)器，以及前述的芯片復(fù)位電路。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種芯片復(fù)位方法，所述芯片復(fù)位方法包括如下步驟：讀取所述芯片的存儲(chǔ)器，以獲取所述存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)的配置信息和校驗(yàn)信息，并利用所述校驗(yàn)信息校驗(yàn)所述配置信息；當(dāng)校驗(yàn)失敗時(shí)反復(fù)讀取所述存儲(chǔ)器并進(jìn)行校驗(yàn)，直至所述配置信息全部校驗(yàn)成功，并且在校驗(yàn)失敗時(shí)，生成芯片復(fù)位信號(hào)，所述芯片復(fù)位信號(hào)用于復(fù)位所述芯片的內(nèi)部模塊。

可選的，所述芯片復(fù)位方法還包括：當(dāng)所述配置信息全部校驗(yàn)成功時(shí)，將所述配置信息和校驗(yàn)信息加載至所述芯片的數(shù)據(jù)緩沖寄存器。