[發明專利]用于光檢測和測距的裝置和方法

有效

• 申請號: 201811142176.5
• 申請日: 2018-09-28
• 公開（公告）號: CN109581360B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發明（設計）人: A·羅歇;W·庫德拉;H·范利羅普;J·維赫根;R·伊格納斯
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G01S13/88
• 分類號: G01S13/88;G01S13/08
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 鄭立柱;張昊

1.一種用于光檢測和測距的裝置(100)，包括：

反射表面(110)，被配置為圍繞旋轉軸(120)振動；

多個光源(130)，每個光源均被配置為經由光學系統(140)可控地發射相應的光束到所述反射表面(110)上；以及

控制器(150)，被配置為控制所述多個光源(130)的發射時間，使得所述反射表面(110)根據用于第一測量的第一波束方向序列以及根據用于隨后第二測量的第二波束方向序列向環境發射多個光束，

其中所述第一波束方向序列包括多個預定波束方向的第一子集和第二子集的序列，其中所述第一子集的波束方向沿第一空間軸彼此相鄰并且沿第二空間軸彼此偏移所述多個預定波束方向中的第一數量的中間波束方向的集合，并且其中所述第二子集的波束方向沿所述第二空間軸與所述第一子集的波束方向偏移所述多個預定波束方向中的第二數量的中間波束方向。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述控制器(150)進一步被配置為控制所述多個光源(130)的所述發射時間，使得所述反射表面(110)在所述第一測量期間根據所述第一波束方向序列重復地向環境發射所述多個光束。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，其中所述控制器(150)進一步被配置為控制所述多個光源(130)，以順序地將它們各自的光束發射到所述反射表面(110)上。

4.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一數量和/或所述第二數量中的至少一個大于1。

5.根據權利要求1或4所述的裝置，其中所述第一波束方向序列進一步包括所述多個預定波束方向的第三子集的序列，其中所述第三子集的波束方向沿所述第二空間軸與所述第二子集的波束方向偏移所述多個預定波束方向中的第三數量的中間波束方向，并且其中所述第三數量在所述第二數量的60％和140％之間。

6.根據權利要求3所述的裝置，其中所述第一波束方向序列多次地包括多個預定波束方向的子集，其中所述控制器進一步被配置為控制所述多個光源的發射時間，使得與所述多個預定波束方向的子集相關的所述多個光源的發射序列改變。

7.根據權利要求3所述的裝置，其中所述控制器(150)進一步被配置為控制所述多個光源(130)，以在所述反射表面沿第一旋轉方向圍繞所述旋轉軸旋轉的同時發射與所述第一波束方向序列的第一部分相關的相應光束，并且被配置為控制所述多個光源，以在所述反射表面沿相反的第二旋轉方向圍繞所述旋轉軸旋轉的同時發射與所述第一波束方向序列的第二部分相關的相應光束。

8.根據權利要求1或2所述的裝置，其中所述控制器(150)進一步被配置為控制所述多個光源(130)中的至少兩個，以同時向所述反射表面(110)發射它們的相應光束。

9.一種用于光檢測和測距的裝置(100)，包括：

反射表面(110)，被配置為圍繞旋轉軸(120)振動；

多個光源(130)，每個光源均被配置為經由光學系統(140)可控地發射相應的光束到所述反射表面(110)上；以及

控制器(150)，被配置為控制所述多個光源(130)的發射時間，使得所述反射表面(110)根據用于第一測量的第一波束方向序列以及根據用于隨后第二測量的第二波束方向序列向環境發射多個光束，

其中所述第一波束方向序列包括多個預定波束方向的第一子集的序列，其中每個所述第一子集的波束方向沿第一空間軸彼此相鄰，并且沿第二空間軸與所述第一子集的前一個的波束方向偏移所述多個預定波束方向中的非零的第一數量的中間波束方向的集合中的一個。

10.根據權利要求9所述的裝置，其中所述第一波束方向序列進一步包括所述多個預定波束方向的第二子集的序列，其中每個所述第二子集的波束方向沿所述第一空間軸彼此相鄰，并且沿所述第二空間軸與所述第二子集的前一個的波束方向偏移所述多個預定波束方向中的非零的第二數量的中間波束方向的集合中的一個。