[發(fā)明專利]背照式BSI圖像傳感器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811139872.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109728011A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周耕宇;江偉杰;王銓中;曾建賢;橋本一明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 蔣林清 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹市*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 隔離柵格 襯底 像素傳感器 反射柵格 背照式 背面 彼此分離 安置 | ||
本發(fā)明實(shí)施例涉及一種背照式BSI圖像傳感器,其包含:襯底,其包含正面及與所述正面對(duì)置的背面;多個(gè)像素傳感器,其布置成陣列;隔離柵格,其安置于所述襯底中且使所述多個(gè)像素傳感器彼此分離;及反射柵格,其在所述襯底的所述背面上安置于所述隔離柵格上方。所述反射柵格的深度小于所述隔離柵格的深度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及半導(dǎo)體圖像傳感器,更具體的,涉及一種背照式BSI圖像傳感器。
背景技術(shù)
數(shù)字相機(jī)及其它成像裝置采用圖像傳感器。圖像傳感器將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成可表示為數(shù)字圖像的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。圖像傳感器包含像素傳感器陣列及支持邏輯電路。陣列的像素傳感器用于測(cè)量入射光的單位裝置,且支持邏輯電路促進(jìn)測(cè)量的讀出。常用于光學(xué)成像裝置中的圖像傳感器類型為背照式(BSI)圖像傳感器。BSI圖像傳感器制造可集成到常規(guī)半導(dǎo)體過(guò)程中以降低成本、減小尺寸及提高集成度。此外,BSI圖像傳感器具有低操作電壓、低功率消耗、高量子效率、低讀出噪聲且允許隨機(jī)存取。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,一種背照式(BSI)圖像傳感器包括:襯底,其包括正面及與所述正面對(duì)置的背面;多個(gè)像素傳感器,其布置成陣列;隔離柵格,其安置于所述襯底中且使所述多個(gè)像素傳感器彼此分離;及反射柵格,其在所述襯底的所述背面上安置于所述隔離柵格上方,且所述反射柵格的深度小于所述隔離柵格的深度。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,一種背照式(BSI)圖像傳感器包括:襯底;像素傳感器;及混合隔離,其在所述襯底中包圍所述像素傳感器,且所述混合隔離包括導(dǎo)電結(jié)構(gòu)及至少覆蓋所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的側(cè)壁的介電層。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,一種背照式(BSI)圖像傳感器包括:襯底,其包括正面及與所述正面對(duì)置的背面;像素傳感器;彩色濾光器,其對(duì)應(yīng)于所述像素傳感器且在所述背面上安置于所述襯底上方;第一混合隔離,其在所述襯底中包圍所述像素傳感器;及第二混合隔離,其在所述襯底的所述背面上包圍所述彩色濾光器。
附圖說(shuō)明
從結(jié)合附圖閱讀的以下詳細(xì)描述最佳理解本揭露的方面。應(yīng)注意,根據(jù)業(yè)界常規(guī)做法,各種構(gòu)件未按比例繪制。實(shí)際上,為使討論清楚,可任意增大或減小各種構(gòu)件的尺寸。
圖1為根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的俯視圖。
圖2為根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面的沿圖1的線A-A'取得的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的橫截面圖。
圖3為根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的橫截面圖。
圖4為根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的橫截面圖。
圖5為根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的橫截面圖。
圖6為表示用于制造根據(jù)本揭露的方面的半導(dǎo)體圖像傳感器的方法的流程圖。
圖7A到7H繪示根據(jù)一或多個(gè)實(shí)施例中的本揭露的方面所構(gòu)造的各種制造階段中的半導(dǎo)體圖像傳感器的一部分的一系列橫截面圖。
具體實(shí)施方式
以下揭露提供用于實(shí)施所提供標(biāo)的的不同特征的諸多不同實(shí)施例或?qū)嵗?。下文將描述元件及布置的具體實(shí)例以簡(jiǎn)化本揭露。當(dāng)然,此些僅為實(shí)例且不意在限制。例如,在以下描述中,“使第一構(gòu)件形成于第二構(gòu)件上方或第二構(gòu)件上”可包含其中形成直接接觸的所述第一構(gòu)件及所述第二構(gòu)件的實(shí)施例,且也可包含其中額外構(gòu)件可形成于所述第一構(gòu)件與所述第二構(gòu)件之間使得所述第一構(gòu)件及所述第二構(gòu)件可不直接接觸的實(shí)施例。另外,本揭露可在各種實(shí)例中重復(fù)元件符號(hào)及/或字母。此重復(fù)旨在簡(jiǎn)化及清楚且其本身不指示所討論的各種實(shí)施例及/或配置之間的關(guān)系。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





