[發明專利]取樣及保持電路在審
| 申請號： | 201811137682.5 | 申請日： | 2018-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN109617542A | 公開（公告）日： | 2019-04-12 |
| 發明（設計）人： | 莊嵋箴;艾倫·羅斯 | 申請（專利權）人： | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號： | H03K17/22 | 分類號： | H03K17/22;H03K17/24 |
| 代理公司： | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人： | 康艷青;姚開麗 |
| 地址： | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電路 取樣節點 輸入線 晶體管 取樣 攜帶信號 電容 漏極 源極 配置 | ||
【權利要求書】：
1.一種取樣及保持電路，其特征在于，包括：
電容組件，將取樣節點耦接到第一電壓；
兩個晶體管，耦接輸入線到所述取樣節點；
開關，耦接在所述兩個晶體管中的第一個晶體管的源極和所述兩個晶體管中的第二個晶體管的漏極之間，所述開關還耦接到第二電壓；以及
保持電路，耦接到所述開關和所述一個或多個晶體管的一個或多個柵極，所述保持電路配置成在取樣期間斷開所述輸入和所述取樣節點之間的所述輸入線。
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