[發明專利]聚酰亞胺膜、覆金屬層疊板及電路基板有效
| 申請號: | 201811133042.7 | 申請日: | 2018-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN109575283B | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發明(設計)人: | 橘髙直樹;菊池伊織;西山哲平;平石克文;安藤敏男;櫻井慎一郎 | 申請(專利權)人: | 日鐵化學材料株式會社 |
| 主分類號: | C08G73/10 | 分類號: | C08G73/10;H05K1/02;H05K1/03 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 彭雪瑞;臧建明 |
| 地址: | 日本東京千代*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 聚酰亞胺 金屬 層疊 路基 | ||
1.一種聚酰亞胺膜,包括單層或多層的聚酰亞胺層,所述聚酰亞胺膜的特征在于,所述聚酰亞胺層為多層,且包括熱膨脹系數最低的單層的第1聚酰亞胺層及層疊于所述第1聚酰亞胺層的單側的單層或多層的第2聚酰亞胺層,
所述第1聚酰亞胺層的熱膨脹系數CTE1及第2聚酰亞胺層的熱膨脹系數CTE2滿足下述數式(1):
1ppm/K<(CTE2-CTE1)≤10ppm/K···(1)
其中,CTE1為所述第1聚酰亞胺層的縱向方向及橫向方向的熱膨脹系數的平均值,CTE2為所述第2聚酰亞胺層的縱向方向及橫向方向的熱膨脹系數的平均值,
所述第1聚酰亞胺層包括包含四羧酸殘基及二胺殘基的聚酰亞胺,且相對于所述聚酰亞胺所含的所有二胺殘基,含有20摩爾%以上的由下述通式(1)所表示的二胺化合物所衍生的二胺殘基,
所述通式(1)中,R1、R2獨立地表示可經鹵素原子或苯基取代的碳數1~3的烷基、或碳數1~3的烷氧基、或碳數2~3的烯基,
且所述聚酰亞胺膜滿足下述條件a~條件e:
條件a:厚度處于3μm以上且50μm以下的范圍內;
條件b:熱膨脹系數為10ppm/K以下;條件c:以在23℃、濕度50%下調濕20小時后的50mm見方的聚酰亞胺膜的中央部的凸面接觸于平坦的面上的方式靜置,并將四角的上浮量的平均值設為平均翹曲量時,平均翹曲量為10mm以下;
條件d:長度方向的熱膨脹系數與寬度方向的熱膨脹系數的差為±3ppm/K以下;
條件e:面內雙折射率為2×10-3以下。
2.根據權利要求1所述的聚酰亞胺膜,其中,所述第2聚酰亞胺層為單層。
3.根據權利要求1所述的聚酰亞胺膜,其中,所述第2聚酰亞胺層的至少一層包括包含四羧酸殘基及二胺殘基的聚酰亞胺,且相對于所述聚酰亞胺所含的所有二胺殘基,含有20摩爾%以上的由所述通式(1)所表示的二胺化合物所衍生的二胺殘基。
4.一種覆金屬層疊板,包括:絕緣層;及位于所述絕緣層的至少一個面上的金屬層,其中,所述絕緣層包括根據權利要求1至3中任一項所述的聚酰亞胺膜。
5.一種電路基板,其是對根據權利要求4所述的覆金屬層疊板中的金屬層進行電路加工而成。
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