[發(fā)明專利]測試裝置及測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811130301.0 | 申請日: | 2018-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN110956051A | 公開(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(專利權(quán))人: | 長鑫存儲技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/14 | 分類號: | G06K7/14 |
| 代理公司: | 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁禮君;闞梓瑄 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 裝置 方法 | ||
本公開涉及測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測試裝置以及測試方法。所述裝置包括:測試基板,用于放置集成電路并對所述集成電路進(jìn)行測試,以獲取所述集成電路的測試數(shù)據(jù);解析鏡頭,與所述測試基板相對設(shè)置,用于掃描所述集成電路的封裝體上的識別碼,以使處理器解析所述識別碼并根據(jù)解析結(jié)果與所述測試數(shù)據(jù)判斷所述識別碼的正確性。本公開減少了掃描時間,提高了掃描效率,從而提高了識別碼的驗證效率,同時節(jié)省了時間成本和人力成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測試裝置以及一種測試方法。
背景技術(shù)
集成電路的生產(chǎn)過程包括芯片生產(chǎn)階段以及封裝階段,其中,在封裝階段需要將集成電路的芯片進(jìn)行封裝,并在封裝體上打印識別碼以識別芯片,最后對封裝后的芯片進(jìn)行測試。
但是,在實際的生產(chǎn)過程中,由于工作的疏忽,可能會存在封裝體上的識別碼打印錯誤的現(xiàn)象。因此,為了驗證封裝體上的識別碼是否打印正確,在對封裝后的芯片進(jìn)行測試的階段中,首先對封裝體上的識別碼進(jìn)行掃描,并通過解析該識別碼得到芯片在芯片生產(chǎn)過程中的各項數(shù)據(jù),例如,測試數(shù)據(jù)、制成數(shù)據(jù)等,然后,對封裝后的芯片進(jìn)行測試,得到封裝后的芯片的測試數(shù)據(jù),最后,將封裝后的芯片的測試數(shù)據(jù)與芯片生產(chǎn)階段中的芯片的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對,若比對成功,則說明該識別碼正確,若比對不成功,則說明該識別碼不正確。
目前,在上述驗證識別碼的正確性的過程中,由于采用人工的方式掃描封裝體上的識別碼,因此,存在識別碼驗證效率低,人力成本高的問題。
需要說明的是,在上述背景技術(shù)部分公開的信息僅用于加強(qiáng)對本公開的背景的理解,因此可以包括不構(gòu)成對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
發(fā)明內(nèi)容
本公開的目的在于提供一種測試裝置以及測試方法,進(jìn)而至少在一定程度上克服由于采用人工的方式描識識別碼使的識別碼驗證效率低,人力成本高的問題。
根據(jù)本公開的一個方面,提供一種測試裝置,包括:
測試基板,用于放置集成電路并對所述集成電路進(jìn)行測試,以獲取所述集成電路的測試數(shù)據(jù);
解析鏡頭,與所述測試基板相對設(shè)置,用于掃描所述集成電路的封裝體上的識別碼,以使處理器解析所述識別碼并根據(jù)解析結(jié)果與所述測試數(shù)據(jù)判斷所述識別碼的正確性。
在本公開的一種示例性實施例中,所述測試裝置還包括:
機(jī)械手臂,用于抓取所述集成電路,并將所述集成電路放置在所述測試基板上。
在本公開的一種示例性實施例中,所述測試基板包括一個測試位置,所述測試位置能夠放置一個所述集成電路;所述測試基板用于對所述測試位置處的所述集成電路進(jìn)行測試,以得到所述測試位置處的所述集成電路的測試數(shù)據(jù)。
在本公開的一種示例性實施例中,所述解析鏡頭為一個且與所述測試位置相對設(shè)置。
在本公開的一種示例性實施例中,所述測試基板包括多個測試位置,各所述測試位置均能夠放置一個所述集成電路,所述測試基板用于同時對各所述測試位置處的所述集成電路進(jìn)行測試,以同時獲取各所述測試位置處的所述集成電路的測試數(shù)據(jù)。
在本公開的一種示例性實施例中,所述解析鏡頭的數(shù)量與所述測試位置的數(shù)量相同,且所述解析鏡頭與所述測試位置一一對應(yīng),各所述解析鏡頭與對應(yīng)的所述測試位置相對設(shè)置。
在本公開的一種示例性實施例中,所述解析鏡頭能夠相對于所述測試基板移動。
在本公開的一種示例性實施例中,所述裝置還包括:
鏡頭移動軌道,用于控制所述解析鏡頭在所述鏡頭移動軌道中移動。
在本公開的一種示例性實施例中,所述解析鏡頭采用可拆卸的方式設(shè)置在所述鏡頭移動軌道中。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長鑫存儲技術(shù)有限公司,未經(jīng)長鑫存儲技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811130301.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:顯示裝置及其制作方法
- 下一篇:一種電子工業(yè)用中性清洗劑
- 同類專利
- 專利分類





