[發明專利]游離鎘離子的檢測方法

有效

• 申請號: 201811103401.4
• 申請日: 2018-09-20
• 公開（公告）號: CN110927129B
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: 鄧承雨;楊一行;錢磊;謝相偉
• 申請（專利權）人: TCL科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 李艷麗

一種游離鎘離子的檢測方法，包括：提供樣品溶液，樣品溶液中含有表面結合有表面配體的量子點，所述表面配體遠離結合位點的一端含有能與五元雜環化合物進行親電反應的活性官能團；確定樣品溶液中量子點的熒光強度與五元雜環化合物的用量之間的對應關系；將五元雜環化合物加入到樣品溶液中，使五元雜環化合物與表面配體進行親電反應得到中間溶液，其中，五元雜環化合物的用量被配置為不會使樣品溶液的量子點發生完全熒光猝滅且大于在后續酸性環境中將中間溶液中的游離鎘離子全部反應所需的用量；調節中間溶液至酸性后，檢測中間溶液中量子點的熒光強度，根據檢測得到的中間溶液中量子點的熒光強度和對應關系確定所述樣品溶液中游離鎘離子的量。

技術領域

本發明屬于量子點技術領域，具體涉及一種游離鎘離子的檢測方法。

背景技術

量子點(Quantum Dot)及量子點相關材料、器件被已經被譽為當前顯示領域的核心技術之一。因其每一個量子點單元都是單晶顆粒，且尺寸具有良好的可調諧性，所以具有高色純度，寬色域、高熱穩定性、窄且對稱的熒光發射光譜、寬且連續的紫外吸收光譜，這使其成為一種理想的印刷顯示的新型材料。

眾所周知，在光電照明和顯示器件中，對光電初始材料的純度要求非常高。通常含鎘量子點合成清洗之后會有微量的鎘離子的殘留，按質量百分比計，至多不大于含鎘量子點質量1.5％鎘離子的殘留，但微量鎘離子的引入不僅會影響光電材料本身的光、電學等特性，更嚴重的是鎘離子殘留會影響量子點發光顯示器件成膜均一性，易發生咖啡環效應或者膜厚不均勻的現象，大大降低了相應光電材料的性能。

當前檢測鎘離子的方法有：原子熒光光譜法、原子吸收分光光度法、雙硫腙分光光度法等。這些方法存在靈敏度差，操作繁瑣等一些問題，

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的上述不足，提供一種游離鎘離子的檢測方法，旨在解決現有鎘離子檢測方法靈敏度差、操作繁瑣的技術問題。

為實現上述發明目的，本發明采用的技術方案如下：

本發明提供一種游離鎘離子的檢測方法，包括如下步驟：

提供樣品溶液，所述樣品溶液中含有表面結合有表面配體的量子點，所述表面配體遠離結合位點的一端含有活性官能團，且所述活性官能團是能與五元雜環化合物進行親電反應的活性官能團；

確定所述樣品溶液中量子點的熒光強度與所述五元雜環化合物的用量之間的對應關系；

將所述五元雜環化合物加入到所述樣品溶液中，使所述五元雜環化合物與所述表面配體進行親電反應得到中間溶液，其中，所述五元雜環化合物的用量被配置為不會使所述樣品溶液的量子點發生完全熒光猝滅且大于在后續酸性環境中將所述中間溶液中的游離鎘離子全部反應所需的用量；

調節所述中間溶液至酸性后，檢測所述中間溶液中量子點的熒光強度，根據檢測得到的所述中間溶液中量子點的熒光強度和所述對應關系確定所述樣品溶液中游離鎘離子的量。