[發明專利]一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構及封裝方法有效
| 申請號: | 201811102793.2 | 申請日: | 2018-09-20 |
| 公開(公告)號: | CN109411370B | 公開(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發明(設計)人: | 張小龍;龔科;周國昌;李文琛;王鼎 | 申請(專利權)人: | 西安空間無線電技術研究所 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/367;H01L23/498;H01L25/065 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 張麗娜 |
| 地址: | 710100*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 倒裝 芯片 htcc 系統 封裝 結構 方法 | ||
本發明涉及一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構及封裝方法,尤其涉及一種適用于大功耗倒裝焊芯片的HTCC一體化系統級封裝結構,所述的大功耗是指倒裝焊芯片的功耗不小于10W,屬于系統級封裝技術領域。本發明的一種適用于大功耗倒裝焊芯片的數模混合高集成度HTCC一體化系統級封裝結構,與現有封裝結構相比,既解決了大功耗芯片散熱、倒裝焊和金絲鍵合工藝兼容的難題,又通過雙密封腔體設計提高了系統集成度;滿足星載數字類陶瓷系統級封裝的需求,有較強的實用性和廣闊的市場應用前景。
技術領域
本發明涉及一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構及封裝方法,尤其涉及一種適用于大功耗倒裝焊芯片的HTCC一體化系統級封裝結構,所述的大功耗是指倒裝焊芯片的功耗不小于10W,屬于系統級封裝技術領域。
背景技術
近年來,面對宇航載荷越來越嚴苛的重量、體積以及自主可控的要求,系統級封裝(System in Package,SiP)技術為實現載荷集成化、小型化、輕量化提供了一條有效的解決途徑。由于高溫共燒陶瓷(HTCC)具有結構強度高、熱導率高、化學穩定性好和布線密度高等優點,在星載數字類系統及封裝電路中廣泛應用。目前常用的封裝結構為HTCC一體化封裝結構,HTCC作為封裝和元器件互聯的基板,HTCC底面制作陣列引腳,通過直插或表貼的方式焊接到印制板上。星載數字類系統級封裝的基本結構如圖1所示。主要包括HTCC基板、圍框,蓋板、引腳等。
隨著星載系統級封裝電路功能越來越復雜對封裝形式多樣性的要求。復雜的電路功能需要更高密度的集成式封裝結構;多種芯片的使用需要封裝結構能夠兼容鍵合(Wire-Bonding)、倒裝焊(Flip-Chip)、焊接、粘接等多種封裝工藝的混合使用;大功耗芯片的使用需要封裝結構提供良好的散熱路徑;數模混合一體化及更高的使用頻率需要優化的基板布局布線設計。
由于HTCC工藝下的倒裝焊芯片安裝后需要做底部填充,填充物會揮發有機氣體,破壞密封腔體內部氣氛,影響其余芯片可靠性,并且對于大功耗倒裝芯片,需要保證有良好的散熱路徑,因此現有的方式是將倒裝焊芯片獨立放置在HTCC基板的正面,并且不再放置其余芯片,僅倒裝焊芯片就占用了基板的主要區域,系統集成度較低,無法滿足復雜系統電路集成的需求。
發明內容
本發明的技術解決問題是:克服現有技術的不足,提出一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構及封裝方法。
本發明的技術解決方案是:
一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構,該封裝結構包括HTCC基板、上腔體圍框、上腔體蓋板、下腔體圍框、下腔體蓋板、CGA引腳陣列和散熱片;
散熱片和上腔體蓋板并排放置在HTCC基板的上方,HTCC基板和散熱片之間為倒裝焊芯片的安裝區域,在HTCC基板和上腔體蓋板之間安裝上腔體圍框,即HTCC基板、上腔體蓋板和上腔體圍框一起形成一個密閉的空腔;CGA引腳陣列的中心帶有空腔,下腔體蓋板位于CGA引腳陣列的中心空腔內,CGA引腳陣列和下腔體蓋板位于HTCC基板的下表面,在HTCC基板和下腔體蓋板之間安裝下腔體圍框,即HTCC基板、下腔體蓋板和下腔體圍框一起形成一個密閉的空腔。
一種倒裝焊芯片的HTCC系統級封裝結構的制備方法,該方法的步驟包括:
(1)制備HTCC基板,要求HTCC基板的長和寬分別為35-60mm,厚度為2-4mm,倒裝焊芯片安裝區域平面度不大于30μm;
(2)制備上腔體圍框和下腔體圍框,要求上腔體圍框的高度為1.5-3mm,下腔體圍框的高度為1.5-2mm;上腔體圍框和下腔體圍框的壁厚均為1-2mm,上腔體圍框和下腔體圍框的材料均為可伐合金;
(3)制備上腔體蓋板和下腔體蓋板,上腔體蓋板和下腔體蓋板的材料均為可伐合金,上腔體蓋板和下腔體蓋板的厚度均為0.1-0.5mm;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安空間無線電技術研究所,未經西安空間無線電技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811102793.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:半導體封裝及其形成方法
- 下一篇:疊層集成電路封裝結構的封裝方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





