[發(fā)明專利]一種硅基光柵化源極太赫茲探測器在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811094805.1 | 申請日: | 2018-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN109449222A | 公開(公告)日: | 2019-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬建國;劉亞軒;傅海鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/0232 | 分類號: | H01L31/0232;H01L31/119 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 12201 | 代理人: | 杜文茹 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 絕緣層 漏極 源極 太赫茲信號 襯底層 溝道層 太赫茲探測器 光柵結(jié)構(gòu) 光柵化 晶體管 硅基 嵌入 等間隔排布 交流電信號 晶體管源極 直流電信號 依次設(shè)置 耦合效率 耦合 上端面 頻段 底端 檢波 條源 探測 輸出 轉(zhuǎn)化 | ||
一種硅基光柵化源極太赫茲探測器,包括有MOS管,所述MOS管包括有由下至上依次設(shè)置的襯底層、溝道層和絕緣層,所述的襯底層一端的上端面設(shè)置有嵌入在所述溝道層和絕緣層內(nèi)的漏極,所述的絕緣層上與所述漏極相鄰的設(shè)置有柵極,所述柵極遠(yuǎn)離漏極的一側(cè)設(shè)置有等間隔排布的光柵結(jié)構(gòu)的源極,所述光柵結(jié)構(gòu)的源極中的每一條源極均嵌入在所述溝道層和絕緣層內(nèi),且底端與所述襯底層相連接。本發(fā)明能夠有效的將空間中的太赫茲信號耦合至晶體管源極,并在晶體管中產(chǎn)生太赫茲頻段的交流電信號,利用晶體管的檢波特性將太赫茲信號轉(zhuǎn)化為直流電信號并通過漏極進(jìn)行輸出,從而實現(xiàn)太赫茲信號探測。本發(fā)明能夠提高耦合效率、降低損耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種太赫茲探測器。特別是涉及一種硅基光柵化源極太赫茲探測器。
背景技術(shù)
太赫茲(THz)波是指頻率在0.1~10THz(即波長為3000μm~30μm)的電磁波(1THz=1012Hz),該波段處于微波和紅外光之間的亞毫米波和遠(yuǎn)紅外波段,屬于前人研究較少的電磁波譜。太赫茲頻段是電子學(xué)到光子學(xué)的過度頻段,因此其擁有許多優(yōu)良的特性,如寬頻性、透視性、安全性等。在通信、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、安全等領(lǐng)域有巨大的應(yīng)用前景。
太赫茲探測器是太赫茲技術(shù)走向應(yīng)用的重要一環(huán),太赫茲探測器可大致分為相干探測和非相干探測。相干探測主要是利用太赫茲時域光譜系統(tǒng),整體系統(tǒng)復(fù)雜且設(shè)備龐大,在應(yīng)用上存在難度。基于非相干的直接探測技術(shù)種類繁多,由于集成電路是利用CMOS工藝進(jìn)行制備,因此基于CMOS工藝的太赫茲探測器能夠和讀出處理電路相結(jié)合,具有易集成、低功耗、穩(wěn)定性強、價格低廉等優(yōu)點,是目前最具應(yīng)用前景的探測器方向。
目前太赫茲光源的輻射功率較低,因此對太赫茲探測器提出了更高的要求。由于CMOS工藝的限制,片上天線存在損耗大、增益效率低等問題,基于CMOS工藝的熱探測又存在吸收、耦合效率低等問題。因此在CMOS工藝上發(fā)展高耦合效率、低損耗、設(shè)計簡單的太赫茲探測器尤為重要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,提供一種能夠提高耦合效率、降低損耗的硅基光柵化源極太赫茲探測器。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種硅基光柵化源極太赫茲探測器,包括有MOS管,所述MOS管包括有由下至上依次設(shè)置的襯底層、溝道層和絕緣層,所述的襯底層一端的上端面設(shè)置有嵌入在所述溝道層和絕緣層內(nèi)的漏極,所述的絕緣層上與所述漏極相鄰的設(shè)置有柵極,所述柵極遠(yuǎn)離漏極的一側(cè)設(shè)置有等間隔排布的光柵結(jié)構(gòu)的源極,所述光柵結(jié)構(gòu)的源極中的每一條源極均嵌入在所述溝道層和絕緣層內(nèi),且底端與所述襯底層相連接。
所述光柵結(jié)構(gòu)的源極包括有3條以上的源極。
所述MOS管的漏極連接低噪聲放大器的正向輸入端,源極接地,柵極連接輸入電壓。
所述的MOS管根據(jù)摻雜區(qū)域和雜質(zhì)不同,構(gòu)成NMOS管或PMOS管。
本發(fā)明的一種硅基光柵化源極太赫茲探測器,利用光柵結(jié)構(gòu)耦合空間中的太赫茲信號,并利用光柵結(jié)構(gòu)的空隙對太赫茲信號進(jìn)行衍射,從而達(dá)到增加局部太赫茲場強的效果。將NMOS/PMOS的源極制備成光柵結(jié)構(gòu),能夠有效的將空間中的太赫茲信號耦合至晶體管源極,并在晶體管中產(chǎn)生太赫茲頻段的交流電信號,利用晶體管的檢波特性將太赫茲信號轉(zhuǎn)化為直流電信號并通過漏極進(jìn)行輸出,從而實現(xiàn)太赫茲信號探測。本發(fā)明避免了天線以及復(fù)雜熱吸收結(jié)構(gòu)的使用,能夠提高耦合效率、降低損耗,對制備高靈敏度、低損耗、設(shè)計步驟簡單的太赫茲探測器提供了新思路。本發(fā)明具有如下有益效果:
(1)本發(fā)明避免了天線的使用,降低了設(shè)計復(fù)雜度;
(2)本發(fā)明是在晶體管的基礎(chǔ)上直接進(jìn)行結(jié)構(gòu)修改,無需使用各種匹配網(wǎng)絡(luò),在太赫茲頻段提高了耦合效率;
(3)本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,尺寸較小,便于集成化、陣列化。
附圖說明
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





