[發明專利]基于激光束發射的厚度測量平臺

有效

• 申請號: 201811094147.6
• 申請日: 2018-09-19
• 公開（公告）號: CN110006350B
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 呂佩臣
• 申請（專利權）人: 核工業華東二六三工程勘察院
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 東莞市神州眾達專利商標事務所(普通合伙) 44251
• 代理人: 朱俊杰

本發明涉及一種基于激光束發射的厚度測量平臺，包括：數據組合設備，與分區濾波設備連接，用于接收每一個圖像分區中各個像素點的各個濾波灰度值，并基于每一個圖像分區中各個像素點的各個濾波灰度值組合成所述高清方塊圖像對應的濾波圖像；低頻濾除設備，用于濾除所述濾波圖像中的低頻成分，以獲得相應的高頻剩余圖像；閾值分割設備，與所述低頻濾除設備連接，用于基于預設鼓起亮度閾值范圍識別出所述高頻剩余圖像中的各個鼓起像素點，并去除所述各個鼓起像素點中的孤點以獲得并輸出鼓起區域；光滑度識別設備，用于基于所述鼓起區域的面積確定所述玻璃方塊的表面光滑度。通過本發明，能夠提升圖像處理效率和效果。

技術領域

本發明涉及玻璃方塊領域，尤其涉及一種基于激光束發射的厚度測量平臺。

背景技術

玻璃厚度測量儀是最新推出的針對玻璃厚度質量控制的測量儀。通常這種儀器采用激光測頭，確保測量數據的高效率、準確性及儀器的長使用壽命，儀器采用專業傳動模組、模塊化設計及人性化設計的軟件，可以對玻璃厚度進行高效率、非接觸的測量。

發明內容

為了解決現有技術中玻璃方塊的表面光滑度不易測量的技術問題，本發明提供了一種基于激光束發射的厚度測量平臺。

本發明至少具有以下三個重要發明點：

(1)基于玻璃方塊左右側面收發激光束束數差值和定制束間距離確定玻璃方塊的玻璃厚度；

(2)還基于高頻圖像中鼓起區域的面積確定對應的玻璃方塊的表面光滑度；

(3)基于待濾波圖像的銳化程度對所述待濾波圖像進行均勻式分區，以獲得各個相同大小的圖像分區，并基于所述待濾波圖像中的各個椒鹽噪聲分別在所述待濾波圖像中的各個位置確定每一個圖像分區中的椒鹽噪聲的數量，以基于每一個圖像分區中的椒鹽噪聲的數量對不同圖像分區執行不同的濾波處理，實現對椒鹽噪聲的高精度濾波。

根據本發明的一方面，提供了一種基于激光束發射的厚度測量平臺，所述平臺包括：

激光發射設備，設置在水平放置的玻璃方塊的左側，用于面向所述玻璃方塊水平發射激光束，所述激光發射設備發射的激光束為第一激光束，所述激光發射設備發射的激光束中相鄰激光束的間距相同；激光接收設備，設置在水平放置的玻璃方塊的右側，用于面向所述玻璃方塊水平接收激光束，所述激光接收設備接收的激光束為第二激光束；激光匹配設備，分別與所述激光發射設備和所述激光接收設備連接，用于接收所述第一激光束和所述第二激光束，并將所述第一激光束的束數減去所述第二激光束的束數以獲得相差束數，并基于所述相差束數確定對應的玻璃厚度；高清攝像設備，設置在所述玻璃方塊的上方，用于對所述玻璃方塊進行高清拍攝以獲得對應的高清方塊圖像。