[發明專利]基于激光束發射的厚度測量平臺

有效

• 申請號: 201811094147.6
• 申請日: 2018-09-19
• 公開（公告）號: CN110006350B
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 呂佩臣
• 申請（專利權）人: 核工業華東二六三工程勘察院
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 東莞市神州眾達專利商標事務所(普通合伙) 44251
• 代理人: 朱俊杰

1.一種基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于，所述平臺包括：

激光發射設備，設置在水平放置的玻璃方塊的左側，用于面向所述玻璃方塊水平發射激光束，所述激光發射設備發射的激光束為第一激光束，所述激光發射設備發射的激光束中相鄰激光束的間距相同；

激光接收設備，設置在水平放置的玻璃方塊的右側，用于面向所述玻璃方塊水平接收激光束，所述激光接收設備接收的激光束為第二激光束；

激光匹配設備，分別與所述激光發射設備和所述激光接收設備連接，用于接收所述第一激光束和所述第二激光束，并將所述第一激光束的束數減去所述第二激光束的束數以獲得相差束數，并基于所述相差束數確定對應的玻璃厚度；

高清攝像設備，設置在所述玻璃方塊的上方，用于對所述玻璃方塊進行高清拍攝以獲得對應的高清方塊圖像；

椒鹽識別設備，與所述高清攝像設備連接，用于接收所述高清方塊圖像，獲得所述高清方塊圖像中各個像素點的各個灰度值，基于所述高清方塊圖像中各個像素點的各個灰度值確定所述高清方塊圖像中的各個椒鹽噪聲；

位置解析設備，與所述椒鹽識別設備連接，用于基于所述高清方塊圖像的銳化程度對所述高清方塊圖像進行均勻式分區，以獲得各個相同大小的圖像分區，并基于所述高清方塊圖像中的各個椒鹽噪聲分別在所述高清方塊圖像中的各個位置確定每一個圖像分區中的椒鹽噪聲的數量；

外形映射設備，與所述位置解析設備連接，用于接收所述高清方塊圖像中的各個圖像分區中的椒鹽噪聲的數量，并針對每一個圖像分區，基于其內部椒鹽噪聲的數量映射相應的濾波模板的徑向長度，其中，內部椒鹽噪聲的數量越多，映射的相應的濾波模板的徑向長度越長；

分區濾波設備，分別與所述椒鹽識別設備和所述外形映射設備連接，用于接收每一個圖像分區對應的濾波模板的徑向長度，針對每一個圖像分區執行以下濾波動作：基于所述圖像分區對應的濾波模板的徑向長度確定對應的濾波模板，采用所述對應的濾波模板對所述圖像分區中各個像素點的各個灰度值進行濾波操作，以獲得所述圖像分區中各個像素點的各個濾波灰度值；

數據組合設備，與所述分區濾波設備連接，用于接收每一個圖像分區中各個像素點的各個濾波灰度值，并基于每一個圖像分區中各個像素點的各個濾波灰度值組合成所述高清方塊圖像對應的濾波圖像；

低頻濾除設備，與所述數據組合設備連接，用于接收所述濾波圖像，濾除所述濾波圖像中的低頻成分，以獲得相應的高頻剩余圖像；

閾值分割設備，與所述低頻濾除設備連接，用于基于預設鼓起亮度閾值范圍識別出所述高頻剩余圖像中的各個鼓起像素點，并去除所述各個鼓起像素點中的孤點以獲得并輸出鼓起區域；

光滑度識別設備，與所述閾值分割設備連接，用于基于所述鼓起區域的面積確定所述玻璃方塊的表面光滑度。

2.如權利要求1所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于：

在所述激光匹配設備中，基于所述相差束數確定對應的玻璃厚度包括：將所述相差束數與激光發射設備發射的激光束中的相鄰激光束的間距相乘以獲得所述玻璃厚度。

3.如權利要求2所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于：

在所述分區濾波設備中，采用所述對應的濾波模板對所述圖像分區中各個像素點的各個灰度值進行濾波操作包括：針對每一個像素點，采用以其為中心的濾波模板在所述高清方塊圖像中包括的各個像素點作為各個有效像素點，基于各個有效像素點的各個灰度值確定被進行濾波操作的像素點的濾波灰度值。

4.如權利要求3所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于：

基于各個有效像素點的各個灰度值確定被進行濾波操作的像素點的濾波灰度值包括：將各個有效像素點的各個灰度值進行大小順序排序，將中央序號的灰度值作為被進行濾波操作的像素點的濾波灰度值。

5.如權利要求4所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于：

所述分區濾波設備包括像素值接收單元和像素值處理單元，所述像素值接收單元與所述像素值處理單元連接。

6.如權利要求5所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于：

所述激光發射設備包括按鍵輸入設備，用于接收檢驗人員輸入的相鄰激光束的間距。

7.如權利要求6所述的基于激光束發射的厚度測量平臺，其特征在于，還包括：

激光驅動設備，與所述激光發射設備連接，用于確定所述激光發射設備發射的激光束的束數。