[發明專利]細胞分析方法、細胞信息提供裝置和系統、控制程序、記錄介質

有效

• 申請號: 201811090545.0
• 申請日: 2018-09-19
• 公開（公告）號: CN109521190B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發明（設計）人: 井口裕朗;白砂渓
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N33/48
• 分類號: G01N33/48;G01N21/64;G01N15/14
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 鄭天松

1.細胞信息提供裝置，其具備：

第1計數部，其在試樣中所含的上皮組織的細胞之中，對如下第1細胞數及第2細胞數各自進行計數：

基于根據細胞的大小和細胞核的大小算出的N/C比而被分類為第1組、表示有比閾值多的DNA量的細胞的數的第1細胞數、及

基于根據細胞的大小和細胞核的大小算出的N/C比而被分類為與上述第1組不同的第2組、表示有比上述閾值多的DNA量的細胞的數的第2細胞數，及

第2計數部，其在上述試樣中所含的上皮組織的細胞之中，對如下第3細胞數及第4細胞數各自進行計數：

表示細胞所具有的DNA量在上述閾值以下的細胞的數的第3細胞數、及

表示細胞所具有的DNA量比上述閾值多的細胞的數的第4細胞數，

判斷部，其基于下列結果判斷上述上皮組織的狀態：

上述第1細胞數和上述第2細胞數的比與第1閾值比較的結果、及

上述第3細胞數和上述第4細胞數的比與第2閾值比較的結果。

2.權利要求1所述的細胞信息提供裝置，其中上述判斷部是：

(1)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比不足上述第2閾值、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比不足上述第1閾值時，判斷為無觀察結果；

(2)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比不足上述第2閾值、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比在上述第1閾值以上時，判斷為有在上皮組織的表層及中層有發育異常的可能性；及

(3)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比在上述第2閾值以上時，判斷為有與在上皮組織的表層相比、在上皮組織的基底層側有發育異常的可能性、且進展到需要治療的階段。

3.權利要求2所述的細胞信息提供裝置，其中上述判斷部是：

(3-1)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比在上述第2閾值以上、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比在上述第1閾值以上時，判斷為有在上皮組織的表層及中層有發育異常的可能性、且進展到需要治療的階段；及

(3-2)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比在上述第2閾值以上、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比不足上述第1閾值時，判斷為有在上皮組織的副基底層或基底層有發育異常的可能性、且進展到需要治療的階段。

4.細胞信息提供裝置，其具備：

數據取得部，其在試樣中所含的上皮組織的細胞之中，取得：

表示細胞的大小的第1數據、

表示細胞核的大小的第2數據、及

表示細胞的DNA量的第3數據；

第1計數部，其對如下第1細胞數及第2細胞數各自進行計數：

基于根據上述第1數據及上述第2數據算出的N/C比而被分類為第1組、表示上述第3數據的值比閾值大的細胞的數的第1細胞數、及

基于根據上述第1數據及上述第2數據算出的N/C比而被分類為與上述第1組不同的第2組、表示上述第3數據的值比上述閾值大的細胞的數的第2細胞數；及

第2計數部，其在上述試樣中所含的上皮組織的細胞之中，對如下第3細胞數及第4細胞數各自進行計數：

表示細胞所具有的DNA量在上述閾值以下的細胞的數的第3細胞數、及

表示細胞所具有的DNA量比上述閾值多的細胞的數的第4細胞數，

判斷部，其基于下列結果判斷上述上皮組織的狀態：

上述第1細胞數和上述第2細胞數的比與第1閾值比較的結果、及

上述第3細胞數和上述第4細胞數的比與第2閾值比較的結果。

5.權利要求4所述的細胞信息提供裝置，其中上述判斷部是：

(1)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比不足上述第2閾值、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比不足上述第1閾值時，判斷為無觀察結果；

(2)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比不足上述第2閾值、且上述第1細胞數和上述第2細胞數的比在上述第1閾值以上時，判斷為有在上皮組織的表層及中層有發育異常的可能性；及

(3)在上述第3細胞數和上述第4細胞數的比在上述第2閾值以上時，判斷為有與在上皮組織的表層相比、在上皮組織的基底層側有發育異常的可能性、且進展到需要治療的階段。