[發明專利]CAN總線測試集成電路、測試系統及測試方法

在審

• 申請號: 201811083206.X
• 申請日: 2018-09-17
• 公開（公告）號: CN110912763A
• 公開（公告）日: 2020-03-24
• 發明（設計）人: 劉崇俊;譚天洪;潘文;姚偉
• 申請（專利權）人: 聯合汽車電子有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26;H04L12/40
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 屈蘅

1.一種CAN總線測試集成電路，其特征在于，包括：輸出電壓測試電路，用于測試CAN總線的輸出電壓參數，所述輸出電壓參數包括：高位數據線的電壓、低位數據線的電壓及差分電壓。

2.如權利要求1所述的CAN總線測試集成電路，其特征在于，所述輸出電壓測試電路包括：依次并聯的第一支路、第二支路、第三支路及第四支路，所述第一支路的兩端形成有第一單刀雙擲開關接口(CANH)和低位數據線接口(CANL)，所述第四支路的兩端形成有第一輸出接口(M1)和第二輸出接口(M2)；

其中，所述第一支路包括：第一電阻(R1)、第二電阻(R2)、第一電容(C1)、第二電容(C2)、第三電容(C3)、第一撥動開關(S1)及第一單刀三擲開關(S5)，所述第一撥動開關(S1)、所述第一電阻(R1)、所述第二電阻(R2)順次串聯；所述第一單刀三擲開關(S5)的不動端與所述第一電阻(R1)與所述第二電阻(R2)之間的連線連接，所述第一單刀三擲開關(S5)的動端選擇性連接所述第一電容(C1)、所述第二電容(C2)或所述第三電容(C3)的一端，所述第一電容(C1)、所述第二電容(C2)和所述第三電容(C3)三者并聯后接地；

所述第二支路包括：第三電阻(R3)、第四電阻(R4)、第四電容(C4)、第五電容(C5)、第六電容(C6)、第二撥動開關(S2)及第二單刀三擲開關(S6)，所述第二撥動開關(S2)、所述第三電阻(R3)、所述第四電阻(R4)順次串聯；所述第二單刀三擲開關(S6)的不動端與所述第三電阻(R3)和所述第四電阻(R4)之間的連線連接，所述第二單刀三擲開關(S6)的動端選擇性連接所述第四電容(C4)、所述第五電容(C5)或所述第六電容(C6)的一端，所述第四電容(C4)、所述第五電容(C5)和所述第六電容(C6)三者并聯后接地；

所述第三支路包括：第五電阻(R5)和第三撥動開關(S3)，所述第三撥動開關(S3)的一端與所述第二撥動開關(S2)連接，所述第三撥動開關(S3)的另一端與所述第五電阻(R5)串聯，所述第五電阻(R5)的另一端與所述第二支路中第四電阻(R4)遠離所述第三電阻(R3)的一端連接；

所述第四支路包括：第六電阻(R6)和第四撥動開關(S4)，所述第四撥動開關(S4)的一端與所述第二撥動開關(S2)連接，所述第四撥動開關(S4)的另一端與所述第六電阻(R6)串聯，所述第六電阻(R6)的另一端與所述第二支路中第四電阻(R4)遠離所述第三電阻(R3)的一端連接。

3.如權利要求1所述的CAN總線測試集成電路，其特征在于，還包括輸入電阻測試電路，用于獲得CAN總線的輸入電阻參數，所述輸入電阻參數包括：高位數據線的輸入電阻、低位數據線的輸入電阻及差分電阻；

所述輸入電阻測試電路包括：第五撥動開關(S7)、第六撥動開關(S8)、第一單刀雙擲開關(S9)、單刀六擲開關(S10)、第七電阻(R7)、第八電阻(R8)、第九電阻(R9)、第十電阻(R10)、第十一電阻(R11)及第十二電阻(R12)，所述第一單刀雙擲開關(S9)的不動端處形成有第三輸出接口(M3)；

其中，所述第七電阻(R7)、所述第八電阻(R8)、所述第九電阻(R9)、所述第十電阻(R10)、所述第十一電阻(R11)和所述第十二電阻(R12)六者并聯后與所述第六撥動開關(S8)的一端連接，所述第六撥動開關(S8)的另一端形成低位數據線接口(CANL)；所述第五撥動開關(S7)的一端與所述第六撥動開關(S8)的一端連接，所述第五撥動開關(S7)的另一端形成有高位數據線接口(CANH)；所述第一單刀雙擲開關(S9)的動端選擇性連接所述第五撥動開關(S7)或所述第六撥動開關(S8)；所述單刀六擲開關(S10)的不動端處形成有電源接口(U)，所述單刀六擲開關(S10)的動端選擇性連接第七電阻(R7)、第八電阻(R8)、第九電阻(R9)、第十電阻(R10)、第十一電阻(R11)或第十二電阻(R12)。

4.如權利要求3所述的CAN總線測試集成電路，其特征在于，所述輸入電阻測試電路獲得CAN總線的輸入電阻參數過程包括測試不含終端和含有終端兩種情況。