[發(fā)明專(zhuān)利]一種射頻功率放大器中晶體管S參數(shù)提取方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811076826.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110907784A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-03-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬建國(guó);楊闖;周紹華;楊自凱;趙升 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 天津大學(xué)青島海洋技術(shù)研究院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/26 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/26;G06F17/16 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 266200 山東省青島市即*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射頻 功率放大器 晶體管 參數(shù) 提取 方法 | ||
1.一種射頻功率放大器中晶體管S參數(shù)提取方法,其特征在于:包括如下步驟:
1、設(shè)計(jì)一款射頻功率功率放大器,包括輸入匹配網(wǎng)絡(luò)、晶體管和輸出匹配網(wǎng)絡(luò);
2、測(cè)試整個(gè)射頻功率放大器的S參數(shù),即SPA;
3、測(cè)試射頻功率放大器輸入匹配網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù),即SIM;
4、測(cè)試射頻功率放大器輸出匹配網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù),即SOM;
5、應(yīng)用微波網(wǎng)絡(luò)理論,利用上述測(cè)試得到的3組S參數(shù),提取晶體管管腳作為參考面的S參數(shù);具體計(jì)算過(guò)程如下:
(ⅰ)根據(jù)S參數(shù)和ABCD矩陣定義,將S矩陣轉(zhuǎn)換成ABCD矩陣;
(ⅱ)根據(jù)ABCD矩陣性質(zhì),計(jì)算出晶體管的ABCD矩陣:
(1)
(ⅲ)將晶體管ABCD矩陣轉(zhuǎn)換成S參數(shù)
(2)
其中,Z0是傳輸線的特征阻抗,所有公式成立的前提是:3個(gè)網(wǎng)絡(luò)端口的特征阻抗都是Z0。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





