[發明專利]太陽能電池刻劃方法及刻劃設備有效
| 申請號: | 201811076405.8 | 申請日: | 2018-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN109216504B | 公開(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發明(設計)人: | 丁陽 | 申請(專利權)人: | 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606 | 代理人: | 劉誠 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 刻劃 太陽能電池 刻線 刻劃設備 實際參數 太陽能電池基板 表面形成 減小 死區 平行 修正 發電 申請 | ||
1.一種太陽能電池刻劃方法,其特征在于,包括:
根據第一次刻劃的設定參數對太陽能電池基板進行第一次刻劃,形成第一刻線;
獲取所述第一刻線的實際參數;
根據所述第一次刻劃的設定參數和所述第一刻線的實際參數,按照所述第一刻線長度方向每間隔第一距離獲取一個第一次刻劃的偏差值;
根據對每間隔第一距離得到的多個所述第一次刻劃的偏差值,對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正;
采用修正后的設定參數進行第n次刻劃,以使得第n刻線和所述第一刻線保持平行,其中n≥2,n為正整數。
2.如權利要求1所述的太陽能電池刻劃方法,其特征在于,所述第一次刻劃的設定參數為基于所述太陽能電池基板所處的基礎坐標系的坐標參數,所述根據第一次刻劃的設定參數對太陽能電池基板進行第一次刻劃,形成第一刻線之前,所述方法還包括:
獲取所述太陽能電池基板的實際坐標信息;
根據所述實際坐標信息與基礎坐標系中所述太陽能電池基板的基準坐標信息的差別對基礎坐標系進行修正,以得到修正后的基礎坐標系;
根據修正后的基礎坐標系確定所述第一次刻劃的設定參數。
3.如權利要求1所述的太陽能電池刻劃方法,其特征在于,所述第一刻線包括m條,對m條所述第一刻線進行分組,每一組包括a條所述第一刻線,根據a條所述第一刻線的偏差值,進行第n次刻劃,以使得a條所述第一刻線和a條所述第n刻線保持平行,a為正整數,m為a的整數倍。
4.如權利要求1所述的太陽能電池刻劃方法,其特征在于,在根據對每間隔第一距離得到的多個所述第一次刻劃的偏差值,對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正的步驟中,n=3:
對每間隔第一距離得到的多個所述第一次刻劃的偏差值進行整合,以完成對第二次刻劃的設定參數的修正,第二次刻劃的實際參數等于所述第二次刻劃的設定參數加上所述第一次刻劃的偏差值;
對每間隔第一距離得到的多個所述第一次刻劃的偏差值進行整合,以完成對第三次刻劃的設定參數進行修正,第三次刻劃的實際參數等于所述第三次刻劃的設定參數加上所述第一次刻劃的偏差值。
5.如權利要求4所述的太陽能電池刻劃方法,其特征在于,
在進行第二次刻劃之前,按照所述第一距離的長度將所述第一刻線分為s段,共獲取s個所述第一次刻劃的偏差值,s為正整數;
當獲取到第s個所述第一次刻劃的偏差值之后,對第二次刻劃的設定參數的第s段進行修正,直至對第二次刻劃的設定參數修正完畢;
在進行第三次刻劃之前,按照所述第一距離的長度將所述第一刻線分為s段,共獲取s個所述第一次刻劃的偏差值,s為正整數;
當獲取到第s個所述第一次刻劃的偏差值之后,對第三次刻劃的設定參數的第s段進行修正,直至對第三次刻劃的設定參數修正完畢。
6.一種刻劃設備,其特征在于,包括:刻劃執行器、刻劃檢測裝置以及控制器;
所述刻劃執行器與所述控制器通信連接,用于根據第一次刻劃的設定參數對太陽能電池基板進行第一次刻劃,形成第一刻線;
所述刻劃檢測裝置與所述控制器通信連接,用于獲取所述第一刻線的實際參數,并將所述第一刻線的實際參數反饋至所述控制器;
所述控制器用于根據所述第一次刻劃的設定參數和所述第一刻線的實際參數,按照所述第一刻線長度方向每間隔第一距離獲取一個第一次刻劃的偏差值;并根據對每間隔第一距離得到的多個所述第一次刻劃的偏差值,對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正;并采用修正后的設定參數進行第n次刻劃,以使得第n刻線和所述第一刻線保持平行,其中n≥2,n為正整數。
7.如權利要求6所述的刻劃設備,其特征在于,所述控制器包括:
修正處理單元,與所述刻劃檢測裝置通信連接,用于獲取所述太陽能電池基板的實際坐標信息,根據所述實際坐標信息與基礎坐標系中所述太陽能電池基板的基準坐標信息的差別對基礎坐標系進行修正,以得到修正后的基礎坐標系,并根據修正后的基礎坐標系確定所述第一次刻劃的設定參數。
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