[發明專利]太陽能電池刻劃方法及刻劃設備

有效

• 申請號: 201811076405.8
• 申請日: 2018-09-14
• 公開（公告）號: CN109216504B
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 丁陽
• 申請（專利權）人: 北京鉑陽頂榮光伏科技有限公司
• 主分類號: H01L31/18
• 分類號: H01L31/18;H01L21/66
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 劉誠

本申請涉及一種太陽能電池刻劃方法及刻劃設備。所述太陽能電池刻劃方法包括根據所述第一次刻劃的設定參數在太陽能電池基板的表面形成第一刻線；獲取所述第一刻線的實際參數；根據所述第一次刻劃的設定參數和所述第一刻線的實際參數，得出第一次刻劃的偏差值，并根據所述第一次刻劃的偏差值對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正，以使得所述第一刻線和第n刻線保持平行。所述太陽能電池刻劃方法可以有效的減小死區寬度，增加太陽能電池的發電面積。

技術領域

本申請涉及太陽能電池技術領域，特別是涉及一種太陽能電池刻劃方法及刻劃設備。

背景技術

在太陽能電池制造領域，刻劃是一種通過激光或機械等方法形成子電池結構的工藝。采用物理方式對太陽能電池的各個膜層進行刻劃或刮除工藝。在太陽能電池層疊結構的縱截面上，相鄰的劃線之間會存在間隔的區域，該區域成為死區。在太陽能電池的制備工藝過程中，需要盡可能的減小死區。傳統的太陽能電池的制備方法中，通過程序設定多次刻線的位置以及傾斜角度，按照程序設定進行多次刻劃。如果襯底玻璃發生熱變形或定位不準確等影響到第一刻線位置的情況，則第一刻線會產生彎曲或者每兩條第一刻線之間的間距或角度變化，也會影響到第一刻線和第二刻線之間死區寬度的變化。在太陽能電池的制備過程中，按照程序設定進行多次刻劃，有可能導致劃線交叉或死區寬度增加等情況，不利于太陽能電池轉換效率的提升。

發明內容

基于此，有必要針對采用傳統的太陽能電池的制備方法有可能導致劃線交叉或死區寬度增加等情況的問題，提供一種太陽能電池刻劃方法及刻劃設備。

一種太陽能電池刻劃方法，包括：

根據第一次刻劃的設定參數對太陽能電池基板進行第一次刻劃，形成第一刻線；

獲取所述第一刻線的實際參數；

根據所述第一次刻劃的設定參數和所述第一刻線的實際參數，得出第一次刻劃的偏差值，并根據所述第一次刻劃的偏差值對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正，并采用修正后的設定參數進行第n次刻劃，以使得第n刻線和所述第一刻線保持平行，其中n≥2，n為正整數。

在一個實施例中，所述第一次刻劃的設定參數為基于所述太陽能電池基板所處的基礎坐標系的坐標參數，所述根據第一次刻劃的設定參數對太陽能電池基板進行第一次刻劃，形成第一刻線之前，所述方法還包括：

獲取所述太陽能電池基板的實際坐標信息；

根據所述實際坐標信息與基礎坐標系中所述太陽能電池基板的基準坐標信息的差別進行對基礎坐標系進行修正，以得到修正后的基礎坐標系；

根據修正后的基礎坐標系確定所述第一次刻劃的設定參數。

在一個實施例中，所述第一刻線包括m條，對m條所述第一刻線進行分組，每一組包括a條所述第一刻線，根據a條所述第一刻線的偏差值，進行第n次刻劃，以使得a條所述第一刻線和a條所述第n刻線保持平行，a為正整數，m為a的整數倍。

在一個實施例中，在根據所述第一次刻劃的設定參數和所述第一刻線的實際參數，得出第一次刻劃的偏差值，并根據所述第一次刻劃的偏差值對之后進行的第n次刻劃的設定參數進行修正，并采用修正后的設定參數進行第n次刻劃，以使得第n刻線和所述第一刻線保持平行，n≥2，n為正整數的步驟中，n＝3：

在進行第二次刻劃之前，根據所述第一次刻劃的偏差值，對第二次刻劃的設定參數進行修正，第二次刻劃的實際參數等于所述第二次刻劃的設定參數加上所述第一次刻劃的偏差值；

在進行第三次刻劃之前，根據所述第一次刻劃的偏差值，對第三次刻劃的設定參數進行修正，第三次刻劃的實際參數等于所述第三次刻劃的設定參數加上所述第一次刻劃的偏差值。

在一個實施例中，在進行第二次刻劃之前，按照所述第一刻線長度方向每間隔第一距離獲取一個所述第一次刻劃的偏差值；