[發(fā)明專利]半導(dǎo)體材料附接方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811074331.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109616427A | 公開(公告)日: | 2019-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李暻植 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 韓美半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/66;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國(guó) |
| 地址: | 韓國(guó)仁*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 附接 半導(dǎo)體材料 附接區(qū)域 影像 工作臺(tái)移動(dòng) 附接位置 附接裝置 矩陣信息 視覺單元 位置誤差 校正 視覺 視角 檢測(cè) | ||
本發(fā)明涉及在附接半導(dǎo)體材料的過程中可快速準(zhǔn)確地校正附接位置的位置誤差的半導(dǎo)體材料附接裝置的附接方法。本發(fā)明的特征在于,使視覺或工作臺(tái)移動(dòng)根據(jù)在視覺單元的視角內(nèi)檢測(cè)出的材料所要附接的附接區(qū)域的矩陣信息計(jì)算的間隔,并且獲取各個(gè)目標(biāo)附接區(qū)域處于互不相同的位置的多個(gè)影像,并從這些影像來判斷目標(biāo)附接區(qū)域的位置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體材料附接方法。更詳細(xì)地,本發(fā)明涉及通過準(zhǔn)確地檢測(cè)半導(dǎo)體材料的附接位置來提高檢查精度的半導(dǎo)體材料附接裝置的附接(Semiconduct or DeviceAttaching Method)方法。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體材料附接裝置中經(jīng)個(gè)別化的半導(dǎo)體材料首先必須準(zhǔn)確地掌握附接對(duì)象的預(yù)設(shè)的附接位置,以便為了后續(xù)工序而對(duì)附接對(duì)象進(jìn)行附接。
這種附接裝置可以為用于將多個(gè)半導(dǎo)體材料粘合在基板的粘合裝置,還可以是為了其他的后續(xù)工序而用于附著在帶上的附著裝置。并且,可以為將半導(dǎo)體材料附著于帶上的附接裝置,以便為了進(jìn)行用于屏蔽電磁波的電磁兼容性(EMI)濺射而在半導(dǎo)體材料進(jìn)行打孔的帶中收容半導(dǎo)體材料的球面。
尤其,在用于電磁兼容性濺射的附接裝置中,當(dāng)在帶上附著半導(dǎo)體材料時(shí),需要準(zhǔn)確地檢測(cè)出帶的孔的位置,并附著在正確的位置以能夠在形成孔的部分容納半導(dǎo)體材料的球面(凸點(diǎn)),從而保護(hù)凸點(diǎn)免受電磁波屏蔽材料的影響。若半導(dǎo)體材料未附著于孔的正確位置,則通過泄漏(leak)的部分還濺射至半導(dǎo)體材料的凸點(diǎn),因此對(duì)半導(dǎo)體材料的電特性產(chǎn)生不利影響。
因此,由于通過用于檢測(cè)附接工作臺(tái)或位置的視覺攝像頭而導(dǎo)致的光學(xué)偏移值(X軸、Y軸、Z軸),而平面上的位置誤差或θ軸上的偏移等的位置誤差反映在精度上,因此,為了附接工序而準(zhǔn)確地檢測(cè)附接對(duì)象上的多個(gè)附接位置是非常重要的。
為了解決這些問題,當(dāng)為了一個(gè)附接位置的準(zhǔn)確度判斷而通過視覺單元在附接位置上部將各個(gè)附接位置分別拍攝多次時(shí),只能在精度檢查上消耗很多時(shí)間。
另一方面,近年來半導(dǎo)體工序性能得以提高,高速、高分辨率的攝像頭增多,半導(dǎo)體材料的尺寸逐漸趨于變小,因此,進(jìn)入視角(FOV,field of view)內(nèi)的材料的數(shù)量增加。
因此,盡管為了提高生產(chǎn)率而逐一檢查進(jìn)入視角內(nèi)的所有材料,但附接工作臺(tái)和視覺攝像頭的機(jī)械性誤差值不得不反映在精度中。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述的問題,本發(fā)明以提供一種可快速且準(zhǔn)確地檢測(cè)出半導(dǎo)體材料的附接位置的半導(dǎo)體材料附接裝置的附接方法。
為了解決上述問題,本發(fā)明可提供半導(dǎo)體材料附接方法,上述半導(dǎo)體材料附接方法為具有形成有多個(gè)半導(dǎo)體材料進(jìn)行粘合的粘合區(qū)域的電路基板、用于放置上述電路基板的工作臺(tái)以及用于拍攝上述電路基板的粘合區(qū)域的視覺單元的半導(dǎo)體材料附接裝置的附接方法,上述半導(dǎo)體材料附接方法包括:利用上述視覺單元,以單鏡頭(shot)拍攝上述半導(dǎo)體材料所要進(jìn)行粘合的目標(biāo)粘合區(qū)域和相鄰的多個(gè)粘合區(qū)域的第一拍攝步驟;拍攝上述目標(biāo)粘合區(qū)域之后,為了使目標(biāo)粘合區(qū)域進(jìn)入上述視覺單元的視角內(nèi)的其他位置而根據(jù)進(jìn)入視覺單元的視角的粘合區(qū)域的矩陣信息來計(jì)算的間隔來移送視覺單元或工作臺(tái)的步驟;在以計(jì)算的上述間隔來移送視覺單元或工作臺(tái)的狀態(tài)下,利用上述視覺單元來拍攝上述目標(biāo)粘合區(qū)域的第二拍攝步驟;通過多次重復(fù)上述移送步驟及第二拍攝步驟,來獲取上述視覺單元的視角內(nèi)的上述目標(biāo)粘合區(qū)域處于互不相同的位置的多個(gè)影像的步驟;以及從所獲取的多個(gè)上述目標(biāo)粘合區(qū)域的影像來判斷上述目標(biāo)粘合區(qū)域的位置的步驟。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





