[發明專利]一種CP測試探針最佳路徑的算法

有效

• 申請號: 201811074043.9
• 申請日: 2018-09-14
• 公開（公告）號: CN109190748B
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 陳湘芳
• 申請（專利權）人: 上海哥瑞利軟件股份有限公司
• 主分類號: G06N3/00
• 分類號: G06N3/00;G06K9/62
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 馮子玲

本發明提供一種CP測試探針最佳路徑的算法，包括：步驟一，根據晶圓的芯片狀態圖將需要測試的芯片用坐標表示；步驟二，用基于合并的層次聚類的改進算法對步驟一標識的芯片進行聚類；步驟三，聚類結束距離跟探針卡的探針分布(N*M)一致，步驟四，將每個類的左上角坐標作為本類的新坐標；步驟五，通過蟻群算法找到通過所有類的最短路徑，此最短路徑即為探針移動的最佳路徑。本發明的CP測試探針最佳路徑的算法，大大提高了路徑設置的效率，有效減少人力成本和測試時間，提高產能。此算法結合多個動態參數，計算最優路徑，有效減少探針卡的接觸晶圓次數，從而提高測試效率，并盡可能地降低因為測試帶給產品質量的影響。

技術領域

本發明涉及一種CP測試探針最佳路徑的算法，屬于芯片測試領域。

背景技術

在半導體封測行業，CP測試是一種接觸測試，測試會在圓晶上留下探針接觸的痕跡，這些針痕在一定程度上會影響芯片的質量，并且帶探針的探針卡是一種測試消耗品，這直接影響到測試成本。另外，有效快速的測試路徑也能最大限度的減少測試時間，從而提高產能。路徑優化，主要用在兩種情況，一種部分失效芯片重測，一種是跳過凸塊失效芯片的測試，這兩種情況主要特點是待測試的芯片是離散分布的，而不是直接測試整片晶圓。路徑優化的主要目的減少探針卡接觸芯片的次數，從而實現提高測試效率；減少對不需要測試芯片的接觸，以及避免需要測試芯片的重復接觸，從而降低測試對芯片質量的影響。不同的探針卡一次接觸測試可以測試芯片數量不一樣，單片圓晶的芯片數量差異也很大，需要測試的芯片在圓晶中的分布也是無序的。CP測試行業，現有的測試設備有提供探針卡測試路徑設置，但是有兩個問題，自動測試的話，只能簡單設置路徑的起始點，以及設置是橫向Z字形，還是縱向Z字形。在自由路徑設置上，只能手動針對單片圓晶設置路徑，這種方式效率特別低，而且Fab操作員無法勝任，只能由工程師調整，這大大增加了人力人本。最重要的是設計出來的路徑只是一個相對較優，工程師的經驗和專業水平差異直接影響路徑的優化程度。

發明內容

本發明的目的在于提供一種CP測試探針最佳路徑的算法，以解決上述問題。

一種CP測試探針最佳路徑的算法,其特征在于，包括步驟：

步驟一，根據晶圓的芯片狀態圖將需要測試的芯片用坐標表示；

步驟二，用基于合并的層次聚類的改進算法對步驟一標識的芯片進行聚類；

步驟三，聚類結束距離跟探針卡的探針分布(N*M)一致，(N，M)-(長，寬)，

步驟四，將每個類的左上角坐標作為本類的新坐標；

步驟五，通過蟻群算法找到通過所有類的最短路徑，此最短路徑即為探針移動的最佳路徑。

進一步，本發明的CP測試探針最佳路徑的算法,還具有這樣的特征：

步驟二中的層次聚類的改進算法，包括如下步驟：

步驟2.1，將每個需要測試的芯片看作一類，計算兩兩之間的最小距離；

步驟2.2，找出距離最小的兩個類，并且兩個類之間所有需要測試的芯片之間的距離在(N，M)內，則將兩個類合并成一個新類，否則將這兩個類標識為最終的類，并且此兩個類不再參與后續的聚類計算；

步驟2.3，重新計算新類與所有類之間的距離；

步驟2.4，重復步驟2.2和步驟2.3，直到所有的類都標識為最終的類。

進一步，本發明的CP測試探針最佳路徑的算法,還具有這樣的特征，還包括：步驟六、控制探針沿步驟五得到的最短路徑進行移動和檢測。

發明的有益效果