[發(fā)明專利]一種CP測試探針最佳路徑的算法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811074043.9 | 申請日： | 2018-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN109190748B | 公開（公告）日： | 2021-09-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳湘芳 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海哥瑞利軟件股份有限公司 |
| 主分類號： | G06N3/00 | 分類號： | G06N3/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 上海精晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31253 | 代理人： | 馮子玲 |
| 地址： | 200000 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 cp 測試 探針 最佳 路徑 算法 | ||
1.一種CP測試探針最佳路徑的方法 ,其特征在于，包括步驟：
步驟一，根據(jù)晶圓的芯片狀態(tài)圖將需要測試的芯片用坐標(biāo)表示；
步驟二，用基于合并的層次聚類的改進算法對步驟一標(biāo)識的芯片進行聚類，基于合并的層次聚類的改進算法，包括如下步驟：
步驟2.1，將每個需要測試的芯片看作一類，計算兩兩之間的最小距離；
步驟2.2，找出距離最小的兩個類，并且兩個類之間所有需要測試的芯片之間的距離在(N，M)內(nèi)，則將兩個類合并成一個新類，否則將這兩個類標(biāo)識為最終的類，并且此兩個類不再參與后續(xù)的聚類計算；
步驟2.3，重新計算新類與所有類之間的距離；
步驟2.4，重復(fù)步驟2.2和步驟2.3，直到所有的類都標(biāo)識為最終的類；
步驟三，聚類結(jié)束距離跟探針卡的探針分布N*M一致，(N，M)-(長，寬)，
步驟四，將每個類的左上角坐標(biāo)作為本類的新坐標(biāo)；
步驟五，通過蟻群算法找到通過所有類的最短路徑，此最短路徑即為探針移動的最佳路徑。
2.如權(quán)利要求1所述的CP測試探針最佳路徑的方法 ,其特征在于，還包括：
步驟六、控制探針沿步驟五得到的最短路徑進行移動和檢測。
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