[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體器件的絕緣層的制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811057365.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110890314A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/762 | 分類號(hào): | H01L21/762 |
| 代理公司: | 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 王瑩;于寶慶 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 絕緣 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體器件的絕緣層的制備方法,包括前驅(qū)體材料與溶劑的混合物的施用步驟、去除溶劑的烘烤步驟以及前驅(qū)體材料向絕緣材料的轉(zhuǎn)變步驟,其中的烘烤步驟中,以50~70℃為起始溫度,通過(guò)兩段或兩段以上的階段升溫方式進(jìn)行烘烤。本發(fā)明還提供了一種半導(dǎo)體器件,其包括所述制備方法制得的絕緣層。本發(fā)明的制備方法改進(jìn)了烘烤步驟,可使得到的絕緣層中溶劑、氣泡排出更加完全,所得膜層更加致密、均勻,隔離、絕緣的效果更好,避免了導(dǎo)線短路的風(fēng)險(xiǎn),繼而所得的半導(dǎo)體器件的性能更優(yōu)。本發(fā)明的制備方法還可降低熱量消耗,更加簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件制造技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種半導(dǎo)體器件的絕緣層的制備方法。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件中,絕緣層是重要構(gòu)成之一,如有源區(qū)之間的絕緣層。有源區(qū)之間一般形成有溝槽,采用絕緣材料將溝槽填充后得到填充結(jié)構(gòu)具有隔離和絕緣的功能,填充結(jié)構(gòu)的材料通常為二氧化硅、氮化硅等。
目前在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,絕緣層的制備可以為以下過(guò)程:首先將可以形成絕緣層的前驅(qū)體材料與溶劑混合形成混合物,然后通過(guò)沉積、涂布等方式將混合物填充至溝槽或形成薄膜,接著進(jìn)行烘烤去除溶劑,退火后前驅(qū)體材料轉(zhuǎn)變形成絕緣層。在絕緣層的制備工藝中,旋涂工藝(SOD,Spin-On Dielectric)已逐漸被廣泛應(yīng)用,其主要是通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布的方式將前驅(qū)體材料(通常為含硅聚合物)與有機(jī)溶劑的混合物填充至溝槽或形成薄膜。
無(wú)論是傳統(tǒng)的沉積工藝還是SOD工藝,都需要制得的絕緣層具有均勻致密、孔缺陷數(shù)量少的特點(diǎn),否則會(huì)減弱絕緣效果而產(chǎn)生載流子短路的風(fēng)險(xiǎn),嚴(yán)重影響半導(dǎo)體器件的性能和產(chǎn)品良率。
發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種半導(dǎo)體器件的絕緣層的制備方法,其所制得的絕緣層具有均勻致密、孔缺陷數(shù)量少的優(yōu)點(diǎn),隔離和絕緣效果好,由此可使得半導(dǎo)體器件具備更好的性能。
本發(fā)明的另一目的是提供一種半導(dǎo)體器件。
本發(fā)明提供的半導(dǎo)體器件的絕緣層的制備方法,包括前驅(qū)體材料與溶劑的混合物的施用步驟、去除所述溶劑的烘烤步驟以及所述前驅(qū)體材料向絕緣材料的轉(zhuǎn)變步驟,其中,所述烘烤步驟中,以50~70℃為起始溫度,通過(guò)兩段或兩段以上的階段升溫方式進(jìn)行烘烤。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述烘烤步驟依次分為60~110℃下的低溫烘烤步驟以及130~180℃下的高溫烘烤步驟。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述低溫烘烤步驟通過(guò)一段或一段以上的階段升溫方式進(jìn)行,總烘烤時(shí)間為90~120s。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述高溫烘烤步驟通過(guò)一段或一段以上的階段升溫方式進(jìn)行,總烘烤時(shí)間為90~120s。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述烘烤步驟依次分為60~80℃下的第一烘烤步驟、100~120℃下的第二烘烤步驟以及130~180℃下的第三烘烤步驟。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述第一烘烤步驟通過(guò)一段或一段以上的階段升溫方式進(jìn)行,總烘烤時(shí)間為60~80s。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述第二烘烤步驟通過(guò)一段或一段以上的階段升溫方式進(jìn)行,總烘烤時(shí)間為60~80s。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述第三烘烤步驟通過(guò)一段或一段以上的階段升溫方式進(jìn)行,總烘烤時(shí)間為60~80s。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述施用步驟中的施用方式為沉積、旋轉(zhuǎn)涂布、狹縫涂布或噴墨印刷。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述烘烤步驟中的相對(duì)濕度控制為30~50%。
本發(fā)明提供的制備方法中,所述烘烤步驟中的壓力控制為0.5~2個(gè)大氣壓。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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