[發(fā)明專利]灰卡性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811056082.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109413412B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廖新風(fēng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04N17/00 | 分類號(hào): | H04N17/00 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 鮑竹 |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 性能 測(cè)試 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本發(fā)明提出一種灰卡性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片;提取灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值;根據(jù)實(shí)際值對(duì)待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試。通過(guò)本發(fā)明能夠保障對(duì)灰卡的性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試的同時(shí),降低灰卡性能測(cè)試的學(xué)習(xí)成本,提升灰卡性能測(cè)試的便捷性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及移動(dòng)終端技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種灰卡性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
灰卡是精確檢測(cè)曝光量的基準(zhǔn),在一些應(yīng)用場(chǎng)景下,針對(duì)移動(dòng)終端閃光燈的校準(zhǔn),可以通過(guò)解析在閃光燈打開(kāi)情況下拍攝的暗箱底部18%左右反射率的灰卡圖片的參數(shù)值來(lái)實(shí)現(xiàn)的。即,所拍攝灰卡圖片的參數(shù)值在一定范圍內(nèi)時(shí),確定閃光燈的性能符合標(biāo)準(zhǔn),但是,在實(shí)際的應(yīng)用場(chǎng)景下,由于灰卡在使用過(guò)程中會(huì)逐漸老化導(dǎo)致反射率變化,進(jìn)而可能會(huì)導(dǎo)致閃光燈校準(zhǔn)的一致性變差。因此,有必要及時(shí)地檢測(cè)灰卡的性能。
相關(guān)技術(shù)中,是采用測(cè)設(shè)儀測(cè)試灰卡性能。
這種方式下,測(cè)設(shè)儀的學(xué)習(xí)門檻較高,測(cè)試方法不夠便捷,測(cè)試成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問(wèn)題之一。
為此,本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種灰卡性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),能夠保障對(duì)灰卡的性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試的同時(shí),降低灰卡性能測(cè)試的學(xué)習(xí)成本,提升灰卡性能測(cè)試的便捷性。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明第一方面實(shí)施例提出的灰卡性能測(cè)試方法,包括:獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片;提取所述灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值;根據(jù)所述實(shí)際值對(duì)所述待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試。
本發(fā)明第一方面實(shí)施例提出的灰卡性能測(cè)試方法,通過(guò)獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片,提取灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值,以及根據(jù)實(shí)際值對(duì)待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試,由于是基于目標(biāo)終端進(jìn)行性能測(cè)試,能夠保障對(duì)灰卡的性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試的同時(shí),降低灰卡性能測(cè)試的學(xué)習(xí)成本,提升灰卡性能測(cè)試的便捷性。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明第二方面實(shí)施例提出的灰卡性能測(cè)試裝置,包括:獲取模塊,用于獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片;提取模塊,用于提取所述灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值;測(cè)試模塊,用于根據(jù)所述實(shí)際值對(duì)所述待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試。
本發(fā)明第二方面實(shí)施例提出的灰卡性能測(cè)試裝置,通過(guò)獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片,提取灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值,以及根據(jù)實(shí)際值對(duì)待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試,由于是基于目標(biāo)終端進(jìn)行性能測(cè)試,能夠保障對(duì)灰卡的性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試的同時(shí),降低灰卡性能測(cè)試的學(xué)習(xí)成本,提升灰卡性能測(cè)試的便捷性。
為達(dá)到上述目的,本申請(qǐng)第三方面還提出一種電子設(shè)備,該電子設(shè)備包括殼體、處理器、存儲(chǔ)器、電路板和電源電路,其中,所述電路板安置在所述殼體圍成的空間內(nèi)部,所述處理器和所述存儲(chǔ)器設(shè)置在所述電路板上;所述電源電路,用于為所述電子設(shè)備的各個(gè)電路或器件供電;所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)可執(zhí)行程序代碼;所述處理器通過(guò)讀取所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的可執(zhí)行程序代碼來(lái)運(yùn)行與所述可執(zhí)行程序代碼對(duì)應(yīng)的程序,以用于執(zhí)行:獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片;提取所述灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值;根據(jù)所述實(shí)際值對(duì)所述待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試。
本申請(qǐng)第三方面實(shí)施例提出的電子設(shè)備,通過(guò)獲取目標(biāo)終端拍攝待測(cè)試灰卡得到的灰卡圖片,提取灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的實(shí)際值,以及根據(jù)實(shí)際值對(duì)待測(cè)試灰卡進(jìn)行性能測(cè)試,由于是基于目標(biāo)終端進(jìn)行性能測(cè)試,能夠保障對(duì)灰卡的性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試的同時(shí),降低灰卡性能測(cè)試的學(xué)習(xí)成本,提升灰卡性能測(cè)試的便捷性。
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