[發(fā)明專利]灰卡性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811056082.6
• 申請日: 2018-09-11
• 公開（公告）號: CN109413412B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 廖新風(fēng)
• 申請（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 深圳市恒申知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312
• 代理人: 鮑竹

1.一種灰卡性能測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取目標(biāo)終端拍攝待測試灰卡得到的灰卡圖片；

提取所述灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對應(yīng)的實(shí)際值；

根據(jù)所述實(shí)際值對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試；

所述目標(biāo)終端為至少兩個，在所述獲取目標(biāo)終端拍攝待測試灰卡得到的灰卡圖片之前，還包括：

基于標(biāo)準(zhǔn)性能的灰卡，對至少兩個的所述目標(biāo)終端的閃光燈進(jìn)行校準(zhǔn)；

所述預(yù)設(shè)參數(shù)為亮度參數(shù)，所述根據(jù)所述實(shí)際值對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試，包括：

判斷各所述灰卡圖片對應(yīng)的亮度參數(shù)的實(shí)際值，是否滿足預(yù)設(shè)條件；

根據(jù)是否滿足所述預(yù)設(shè)條件的判定結(jié)果，對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試。

2.如權(quán)利要求1所述的灰卡性能測試方法，其特征在于，所述根據(jù)是否滿足所述預(yù)設(shè)條件的判定結(jié)果，對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試，包括：

在各所述實(shí)際值，均在第一預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)，則確定所述待測試灰卡的性能滿足測試指標(biāo)；

在各所述實(shí)際值中，任一實(shí)際值不在所述第一預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)，則確定所述待測試灰卡的性能不滿足所述測試指標(biāo)。

3.如權(quán)利要求1所述的灰卡性能測試方法，其特征在于，所述根據(jù)是否滿足所述預(yù)設(shè)條件的判定結(jié)果，對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試，包括：

確定多個所述實(shí)際值對應(yīng)的均值；

在所述均值在第二預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)時，則確定所述待測試灰卡的性能滿足測試指標(biāo)；

在所述均值不在所述第二預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)時，則確定所述待測試灰卡的性能不滿足所述測試指標(biāo)。

4.一種灰卡性能測試裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取目標(biāo)終端拍攝待測試灰卡得到的灰卡圖片；

提取模塊，用于提取所述灰卡圖片的預(yù)設(shè)參數(shù)對應(yīng)的實(shí)際值；

測試模塊，用于根據(jù)所述實(shí)際值對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試；

所述目標(biāo)終端為至少兩個，所述灰卡性能測試裝置還包括：

校準(zhǔn)模塊，用于基于標(biāo)準(zhǔn)性能的灰卡，對至少兩個的所述目標(biāo)終端的閃光燈進(jìn)行校準(zhǔn)；

所述預(yù)設(shè)參數(shù)為亮度參數(shù)，所述測試模塊包括：

判斷子模塊，用于判斷各所述灰卡圖片對應(yīng)的亮度參數(shù)的實(shí)際值，是否滿足預(yù)設(shè)條件；

測試子模塊，用于根據(jù)是否滿足所述預(yù)設(shè)條件的判定結(jié)果，對所述待測試灰卡進(jìn)行性能測試。

5.如權(quán)利要求4所述的灰卡性能測試裝置，其特征在于，所述測試子模塊，具體用于：

在各所述實(shí)際值，均在第一預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)，則確定所述待測試灰卡的性能滿足測試指標(biāo)；

在各所述實(shí)際值中，任一實(shí)際值不在所述第一預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)，則確定所述待測試灰卡的性能不滿足所述測試指標(biāo)。

6.如權(quán)利要求4所述的灰卡性能測試裝置，其特征在于，所述測試子模塊，具體用于：

確定多個所述實(shí)際值對應(yīng)的均值；

在所述均值在第二預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)時，則確定所述待測試灰卡的性能滿足測試指標(biāo)；

在所述均值不在所述第二預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)時，則確定所述待測試灰卡的性能不滿足所述測試指標(biāo)。

7.一種電子設(shè)備，包括殼體、處理器、存儲器、電路板和電源電路，其中，所述電路板安置在所述殼體圍成的空間內(nèi)部，所述處理器和所述存儲器設(shè)置在所述電路板上；所述電源電路，用于為所述電子設(shè)備供電；所述存儲器用于存儲可執(zhí)行程序代碼；所述處理器通過讀取所述存儲器中存儲的可執(zhí)行程序代碼來運(yùn)行與所述可執(zhí)行程序代碼對應(yīng)的程序，以用于執(zhí)行權(quán)利要求1-3中任一項所述的灰卡性能測試方法。

8.一種非臨時性計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-3中任一項所述的灰卡性能測試方法。