[發(fā)明專(zhuān)利]全自動(dòng)工件表面質(zhì)量檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811055550.8
• 申請(qǐng)日: 2016-08-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109342435B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 李建勛
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種全自動(dòng)工件表面質(zhì)量檢測(cè)裝置，其包括底座、工件固定組件、工件上表面檢測(cè)組件、工件下表面檢測(cè)組件、檢測(cè)組件驅(qū)動(dòng)組件和檢測(cè)上位機(jī)，其特征在于，所述的底座上設(shè)置有所述的工件固定組件，待檢測(cè)工件的上表面設(shè)置有工件上表面檢測(cè)組件，所述的待檢測(cè)工件的下表面上設(shè)置有工件下表面檢測(cè)組件，所述的工件上表面檢測(cè)組件、工件下表面檢測(cè)組件均由所述的檢測(cè)組件驅(qū)動(dòng)組件進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)所述的工件上表面檢測(cè)組件、工件下表面檢測(cè)組件的往復(fù)移動(dòng)，以便對(duì)待檢測(cè)工件的整個(gè)表面進(jìn)行全覆蓋式檢測(cè)；

所述的工件固定組件包括基座、檢測(cè)圓柱筒、夾緊氣缸、夾緊座、固定板、夾緊板和夾板氣缸，其中，所述的基座固定設(shè)置在所述的底座上，所述的基座上設(shè)置有檢測(cè)圓柱筒，所述的檢測(cè)圓柱筒的外圓周壁上沿著徑向設(shè)置有兩個(gè)水平的夾緊氣缸，所述的夾緊氣缸的活塞桿穿過(guò)所述的檢測(cè)圓柱筒設(shè)置，所述的夾緊氣缸的活塞桿的端部設(shè)置有夾緊座，所述的夾緊座的上端設(shè)置有夾緊板，所述的夾緊座的下端設(shè)置有固定板，所述的夾緊板由夾板氣缸驅(qū)動(dòng)，待檢測(cè)工件依靠夾緊板夾緊設(shè)置在所述的檢測(cè)圓柱筒內(nèi)，所述的工件上表面檢測(cè)組件包括上表面質(zhì)量檢測(cè)頭、上滑塊、上滑頭和上驅(qū)動(dòng)桿，其中，所述的上表面質(zhì)量檢測(cè)頭設(shè)置有所述的上滑塊上，所述的上滑塊上設(shè)置有上滑頭，所述的上滑頭沿著所述的檢測(cè)圓柱筒內(nèi)壁上的滑槽滑動(dòng)，所述的上滑塊上連接設(shè)置有所述的上驅(qū)動(dòng)桿，所述的工件下表面檢測(cè)組件包括下滑塊、下滑頭、下表面質(zhì)量檢測(cè)頭和下驅(qū)動(dòng)桿，其中，所述的下表面質(zhì)量檢測(cè)頭設(shè)置在所述的下滑塊上，所述的下滑塊上設(shè)置有下滑頭，所述的下滑頭沿著所述的檢測(cè)圓柱筒內(nèi)壁上的滑槽滑動(dòng)，所述的下滑塊上固定設(shè)置有下驅(qū)動(dòng)桿；所述的檢測(cè)組件驅(qū)動(dòng)組件包括驅(qū)動(dòng)主桿、驅(qū)動(dòng)齒條、導(dǎo)向塊、固定導(dǎo)向座和齒輪，所述的上驅(qū)動(dòng)桿和下驅(qū)動(dòng)桿分別鉸接設(shè)置在所述的驅(qū)動(dòng)主桿的一端，所述的驅(qū)動(dòng)主桿的另一端固定設(shè)置在所述的驅(qū)動(dòng)齒條上，所述驅(qū)動(dòng)齒條與所述的齒輪配合傳動(dòng)，所述的齒輪由正反轉(zhuǎn)電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，所述的驅(qū)動(dòng)齒條的上端設(shè)置有導(dǎo)向塊，檢測(cè)頭驅(qū)動(dòng)箱內(nèi)設(shè)置有固定導(dǎo)向座，所述的固定導(dǎo)向座上設(shè)置有導(dǎo)向槽，所述的導(dǎo)向塊在所述的導(dǎo)向槽內(nèi)滑動(dòng)配合；

所述的檢測(cè)組件驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置在所述的檢測(cè)頭驅(qū)動(dòng)箱內(nèi)；

所述的正反轉(zhuǎn)電機(jī)由所述的檢測(cè)上位機(jī)進(jìn)行控制；

所述的檢測(cè)圓柱筒內(nèi)的滑槽為T(mén)型滑槽，且T型滑槽沿著所述的檢測(cè)圓柱筒的軸線(xiàn)方向設(shè)置；

所述的上表面質(zhì)量檢測(cè)頭和下表面質(zhì)量檢測(cè)頭均采用激光檢測(cè)探頭。