[發明專利]一種防漏V-CUT測試結構和方法

在審

• 申請號: 201811033997.5
• 申請日: 2018-09-05
• 公開（公告）號: CN108845246A
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發明（設計）人: 譚鎮興
• 申請（專利權）人: 清遠市富盈電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/02
• 代理公司: 廣州市科豐知識產權代理事務所(普通合伙) 44467
• 代理人: 龔元元

本發明屬于PCB域，具體為一種防漏V?CUT測試結構，包括設置在PCB折斷邊上的至少一對防漏V?CUT測試焊盤，所述的防漏V?CUT測試焊盤之間通過PAD線連通；所述的PAD線的末端嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V?CUT槽的60?70％的寬度的位置；所述的PAD線與已規劃好但是還未鑼出的V?CUT槽的相交點為2個，間距為0.85?0.95mm。該測試結構為進行V?CUT槽前的結構，可以保證V?CUT操作后處于可靠的開路狀態。

技術領域

本發明涉及PCB加工領域，具體為一種防漏V-CUT測試結構和方法。

背景技術

CN01410332403.6公開了一種PCB防漏成型檢測方法，其中，包括步驟：A.在PCB折斷邊上設置至少兩個防漏V-CUT測試焊盤；B.將所述至少兩個防漏V-CUT測試焊盤進行連接，連接線的中部跨過折斷邊連接在PCB單元上；C.在對PCB板進行V-CUT之后，對所述至少兩個防漏V-CUT測試焊盤進行導通性測試，當呈開路狀態時，則連接線切斷，當呈導通狀態時，則連接線未切斷。本發明可直接通過電性測試進行檢測，不用進行人工檢查，提高了生產效率；并且優化了生產流程，降低人工檢查的勞動強度；同時保證了產品品質，由于采用了測試機進行檢測，避免因漏V-CUT造成漏檢問題的產生。

上述僅公開了如何去測試是否有漏V的情況出現。

但是在實際應用中，上述方法并不可靠，可能出現的影響因素如下：

測試線與線之間距離小，翹起的銅銅相連產生短路、線寬較大、且與V-CUT線相交的底部線位置深度不足，當板材有漲縮或機臺精度偏差時造成測試線V不斷。

發明內容

本發明的目的在于提供一種防漏V-CUT測試結構和方法。該測試結構為進行V-CUT槽前的結構，可以保證V-CUT操作后處于可靠的開路狀態。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種防漏V-CUT測試結構，包括設置在PCB折斷邊上的至少一對防漏V-CUT測試焊盤，所述的防漏V-CUT測試焊盤之間通過PAD線連通；所述的PAD線的末端嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的60-70％的寬度的位置；所述的PAD線與已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的相交點為2個，間距為0.85-0.95mm。

本文所述的PAD線的末端是指PAD線延伸到V-CUT槽內最深處位置。

在上述的防漏V-CUT測試結構中，所述的V-CUT槽的寬度為0.8mm。

在上述的防漏V-CUT測試結構中，所述的防漏V-CUT測試焊盤的中心間距為2mm。

在上述的防漏V-CUT測試結構中，所述的PAD線嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽中的部分為凹字形或內凹的弧形。

在上述的防漏V-CUT測試結構中，所述的所述的PAD線的末端嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的2/3的寬度的位置，所述的PAD線與已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的相交點為2個，間距為0.9mm。

同時，本發明還公開了一種防漏V-CUT測試方法，包括如下步驟：

步驟1：按照步驟1-5任意所述的方法制備得到防漏V-CUT測試結構；

步驟2：采用鑼刀在預設的位置鑼出V-CUT槽，PAD線被切斷，端部距離為0.85-0.95mm；

步驟3：測試防漏V-CUT測試焊盤之間的導通性能。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

本發明的測試結構在V-CUT槽的過程中可以把測試線V斷，無殘銅遺留，兩線相對較遠無連接，不會出現漏V的現象。

附圖說明