[發明專利]一種防漏V-CUT測試結構和方法

在審

• 申請號: 201811033997.5
• 申請日: 2018-09-05
• 公開（公告）號: CN108845246A
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發明（設計）人: 譚鎮興
• 申請（專利權）人: 清遠市富盈電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/02
• 代理公司: 廣州市科豐知識產權代理事務所(普通合伙) 44467
• 代理人: 龔元元

1.一種防漏V-CUT測試結構，包括設置在PCB折斷邊上的至少一對防漏V-CUT測試焊盤，其特征在于，所述的防漏V-CUT測試焊盤之間通過PAD線連通；所述的PAD線的末端嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的60-70％的寬度的位置；所述的PAD線與已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的相交點為2個，間距為0.85-0.95mm。

2.根據權利要求1所述的防漏V-CUT測試結構，其特征在于，所述的V-CUT槽的寬度為0.8mm。

3.根據權利要求2所述的防漏V-CUT測試結構，其特征在于，所述的防漏V-CUT測試焊盤的中心間距為2mm。

4.根據權利要求1所述的防漏V-CUT測試結構，其特征在于，所述的PAD線嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽中的部分為凹字形或內凹的弧形。

5.根據權利要求1所述的防漏V-CUT測試結構，其特征在于，所述的所述的PAD線的末端嵌入到已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的2/3的寬度的位置，所述的PAD線與已規劃好但是還未鑼出的V-CUT槽的相交點為2個，間距為0.9mm。

6.一種防漏V-CUT測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟1：按照權利要求1-5任意所述的方法制備得到防漏V-CUT測試結構；

步驟2：采用鑼刀在預設的位置鑼出V-CUT槽，PAD線被切斷，端部距離為0.85-0.95mm；

步驟3：測試防漏V-CUT測試焊盤之間的導通性能。