[發(fā)明專利]一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811033543.8 | 申請日: | 2018-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN109060675A | 公開(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖冬;姜國泰;李宏宗;張澤源 | 申請(專利權(quán))人: | 東北大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01N21/64;G01N21/75 |
| 代理公司: | 北京中強(qiáng)智尚知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11448 | 代理人: | 黃耀威 |
| 地址: | 110819 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鐵礦石 鐵含量檢測 光譜信息 樣本 檢測 光譜數(shù)據(jù) 含量信息 采集 環(huán)境適應(yīng)性 環(huán)境污染物 環(huán)境無污染 極限學(xué)習(xí)機(jī) 鐵礦石樣品 含量數(shù)據(jù) 化學(xué)試劑 檢測裝置 模型輸入 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 自動(dòng)檢測 | ||
1.一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,包括:
采集多個(gè)鐵礦石樣本所對應(yīng)的光譜數(shù)據(jù);
通過多個(gè)所述鐵礦石樣本的光譜數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的樣本中的鐵含量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,建立基于極限學(xué)習(xí)機(jī)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的鐵含量檢測模型;
向所述鐵含量檢測模型輸入待測鐵礦石樣品的光譜信息,獲得所述光譜信息所對應(yīng)的樣品中鐵的含量信息,并將所述樣品的鐵含量信息進(jìn)行顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,在采集多個(gè)所述鐵礦石樣本所對應(yīng)的光譜數(shù)據(jù)時(shí),包括:
通過化學(xué)檢測法或熒光法對多個(gè)所述鐵礦石樣本進(jìn)行鐵含量檢測;
將經(jīng)鐵含量檢測過的多個(gè)所述鐵礦石樣本分別進(jìn)行光譜檢測后,將獲得的光譜數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的樣本中的鐵含量數(shù)據(jù)進(jìn)行采集。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,在通過多個(gè)所述鐵礦石樣本的光譜數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的樣本中的鐵含量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,建立基于極限學(xué)習(xí)機(jī)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的鐵含量檢測模型時(shí),包括:
將多個(gè)所述鐵礦石樣本的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行分組形成若干個(gè)光譜數(shù)據(jù)組;
利用主成分分析法將所述光譜數(shù)據(jù)組中的光譜特征進(jìn)行降維處理,得到樣本數(shù)據(jù);
將所述樣本數(shù)據(jù)作為輸入數(shù)據(jù),將與所述樣品對應(yīng)的鐵含量作為輸出數(shù)據(jù),經(jīng)所述極限學(xué)習(xí)機(jī)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練得到所述鐵含量檢測模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,在經(jīng)所述極限學(xué)習(xí)機(jī)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練得到所述鐵含量檢測模型時(shí),包括:
當(dāng)所述極限學(xué)習(xí)機(jī)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)有L個(gè)隱含層節(jié)點(diǎn)、N個(gè)訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)(xi,ti)時(shí),所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸出為:其中,xi=[xi1xi2L xin]T∈Rn,ti=[ti1ti2L tim]T∈Rm;ωi=[ωi1ωi2…ωin]T為連接第i個(gè)隱藏層節(jié)點(diǎn)與輸入節(jié)點(diǎn)的輸入權(quán)值;βi為連接第i個(gè)隱藏層節(jié)點(diǎn)與輸出節(jié)點(diǎn)的輸出權(quán)值;bi為第i個(gè)隱藏層節(jié)點(diǎn)的偏置;G(x)代表隱含層神經(jīng)元的輸出,對于加法型隱藏節(jié)點(diǎn),G(x)為:G(ωi,bi,xj)=g(ωi·xj+bi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,在利用主成分分析法將所述光譜數(shù)據(jù)組中的光譜特征進(jìn)行降維處理時(shí),包括:
在所述光譜數(shù)據(jù)組中m個(gè)所述光譜特征時(shí),將m個(gè)所述光譜特征的維度從n維降到n′維,使n′維光譜特征表示所述光譜數(shù)據(jù)組中全部數(shù)據(jù);其中,所述光譜特征的降維標(biāo)準(zhǔn)為:所述鐵礦石的樣本點(diǎn)到與其對應(yīng)的超平面的距離足夠近,或者所述樣本點(diǎn)在與其對應(yīng)的超平面上的投影能盡可能的分開。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于鐵礦石中鐵含量檢測方法,其特征在于,在將m個(gè)所述光譜特征的維度從n維降到n′維時(shí),包括:
確定最大的n′個(gè)特征值對應(yīng)的特征向量,通過n′個(gè)所述特征向量組成標(biāo)準(zhǔn)正交矩陣,并通過所述標(biāo)準(zhǔn)正交矩陣把所述光譜特征的n′維降到所述鐵礦石的樣本點(diǎn)的最小投影距離的n′維。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





