[發(fā)明專利]一種去除材料深度的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811032458.X
• 申請日: 2018-09-05
• 公開（公告）號: CN109269435B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發(fā)明（設計）人: 王幸;李建鋒;徐佳偉;李榮;宋小龍;劉曉坤;白立欣;劉麗慧
• 申請（專利權）人: 中國航發(fā)動力股份有限公司
• 主分類號: G01B11/22
• 分類號: G01B11/22
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

1.一種去除材料深度的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，對工件表面過渡圓處進行表面探傷，并標記缺陷部位；

步驟2，對步驟1檢測出的工件缺陷部位的過渡圓尺寸以及外形輪廓進行采樣；采樣時采用樣膏或橡皮泥；未使用的橡皮泥或樣膏保存在恒溫恒濕的裝置中；

步驟3，在步驟1檢測出的缺陷周圍標記修理邊界，然后在修理邊界區(qū)域內對工件的缺陷部位進行修磨；對缺陷部位進行修磨時借助放大鏡對缺陷部位進行放大；采用手動修磨工具對工件的缺陷部位進行修磨；

步驟4，對經步驟3修理后的工件線性顯示部位再次進行表面探傷檢查，若探傷檢查不合格，則重復步驟1～步驟3的操作；若探傷檢查合格，則進行下一步；

步驟5，對經過步驟4處理后工件缺陷部位的過渡圓尺寸及外形輪廓進行采樣；采樣所用樣膏或橡皮泥與步驟2中所用樣膏或橡皮泥為同批制作；

步驟6，將步驟2和步驟5所得樣品的圓弧進行正投影，對比步驟2和步驟5所得樣品的過渡圓尺寸；步驟1中，表面探傷采用磁粉檢測或滲透檢測，步驟4中所采用的探傷方法應與步驟1中所述探傷方法相同， 步驟6中，采用萬能顯微鏡將步驟2和步驟5所得樣品的過渡圓正投影進行放大比對，過渡圓修磨前的半徑和修磨后的半徑之差最大處不超過0.1mm；所述工件待檢測部位為齒輪軸過渡圓；步驟3中，對缺陷部位進行修磨時遵循每次少量多次的原則，并且從缺陷部位向修磨修理邊界處平滑過渡。