[發明專利]穿透率檢測方法、裝置和計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201811024525.3
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN109142284B
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發明（設計）人: 何洋
• 申請（專利權）人: 重慶惠科金渝光電科技有限公司;惠科股份有限公司
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種穿透率檢測方法，其特征在于，所述穿透率檢測方法包括以下步驟：

獲取一片待測試光學膜片在各個測試點上的穿透率；

確定各個測試點中的基準測試點的穿透率；

確定每個測試點的位置信息和背光信息；

根據所述位置信息和背光信息確定每個測試點對應的穿透率趨勢信息；

判斷每個測試點的穿透率是否符合所述穿透率趨勢信息；

在符合時，執行將其他測試點的穿透率與所述基準測試點的穿透率比較，計算得到每個測試點的穿透率修正值的步驟；

將其他測試點的穿透率與所述基準測試點的穿透率比較，計算得到每個測試點的穿透率修正值，其中其他測試點為除基準測試點之外的測試點；

獲取待測試光學膜片在測試點處的初始穿透率；

獲取與所述測試點處對應的穿透率修正值；

根據所述初始穿透率和所述測試點對應的穿透率修正值確定所述待測試光學膜片的穿透率。

2.如權利要求1所述的穿透率檢測方法，其特征在于，在存在多片待檢測的光學膜片時，所述根據所述初始穿透率和所述測試點對應的穿透率修正值確定所述待測試光學膜片的穿透率的步驟包括：

在確定所述多片待檢測的光學膜片的穿透率后，將檢測到的各待檢測光學膜片的穿透率比較，得到各待檢測光學膜片的穿透率的差值。

3.如權利要求1所述的穿透率檢測方法，其特征在于，所述獲取待測試光學膜片在測試點處的初始穿透率的步驟之前，還包括：

確定各個測試點對應的背光信息；

在計算各個測試點背光信息與基準測試點背光信息的差值；

根據所述差值生成各個測試點的第一穿透率修正值。

4.如權利要求3所述的穿透率檢測方法，其特征在于，所述根據所述差值生成各個測試點的穿透率修正值的步驟之后，還包括：

獲取一片待測試光學膜片在各個測試點上的穿透率；

確定各個測試點中的基準測試點的穿透率；

將其他測試點的穿透率與所述基準測試點的穿透率比較，計算得到每個測試點的第二穿透率修正值，其中其他測試點為除基準測試點之外的測試點；

根據每個測試點對應的第一穿透率修正值和第二穿透率修正值確定每個測試點對應的穿透率修正值。

5.如權利要求1所述的穿透率檢測方法，其特征在于，所述獲取待測試光學膜片在測試點處的初始穿透率的步驟之前，還包括：

提供一光學檢測設備，將待測試的光學膜片置于光學檢測設備的檢測范圍內，并置于各個設置的待測試點；

控制光學檢測設備檢測所述各個設置的測試點的光學膜片的穿透率。

6.如權利要求5所述的穿透率檢測方法，其特征在于，所述控制光學檢測設備檢測所述各個設置的測試點的光學膜片的穿透率的步驟包括：

控制光學檢測設備檢測通過各個設置的測試點的光學膜片的光強度；

根據各個光強度確定對應光學膜片的穿透率。

7.一種穿透率檢測裝置，其特征在于，所述穿透率檢測裝置包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至5中任一項所述的方法的步驟。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有穿透率檢測程序，所述穿透率檢測程序被處理器執行時實現如權利要求1至5中任一項所述的穿透率檢測方法。