[發明專利]一種邏輯芯片測試裝置

在審

• 申請號: 201811021915.5
• 申請日: 2018-09-04
• 公開（公告）號: CN110873838A
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 呂德深;梁承權;黃世玲
• 申請（專利權）人: 南寧學院
• 主分類號: G01R31/3177
• 分類號: G01R31/3177;G01R31/319
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種邏輯芯片測試裝置，屬于電子技術領域。該裝置包括單片機模塊、芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊，可選擇芯片識別模式或元件好壞判斷模式。識別模式下，將芯片放入芯片座模塊可識別常見74系列芯片，識別結果顯示在液晶顯示模塊，并語音播報芯片的型號；元件好壞判斷模式下，可通過按鍵輸入74系列芯片的型號，將芯片放入芯片座模塊可判斷元件的好壞，液晶顯示模塊顯示好壞情況，若芯片壞裝置發出聲光報警和語音警告提示。本裝置應用在芯片檢測回收場合，芯片循環回收，節約了資源，減少了芯片的浪費。

技術領域

本發明涉及一種邏輯芯片測試裝置，屬于電子技術領域。

背景技術

隨著電子技術發展迅速，數字集成電路得到應用廣泛，而74系列邏輯芯片在數字電路中又有著非常廣泛的應用，很多芯片經歷多次使用后芯片上標注的型號字跡模糊不清，無法分辨其型號。有時可以看清楚其型號，但不知道其性能的好壞，無法再次使用。造成大量芯片無法重復利用，造成資源的浪費。

發明內容

針對上述情況，本發明針對常用的74系列邏輯芯片設計了一種邏輯芯片測試裝置，用來檢測常用74系列芯片的型號和邏輯功能的好壞。

本發明所采取的具體技術方案如下：

一種邏輯芯片測試裝置，其特征是：該裝置包括單片機模塊、芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊。芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊與單片機模塊與單片機模塊分別連接。

所述單片機模塊包括1個AT89C55單片機U1、1個12MHz晶體振蕩器X1、1個5.1KΩ電阻R1和2個22pF瓷片電容C1～C2；所述芯片插座模塊包括1個14引腳的緊鎖座U3；所述按鍵模塊包括16個輕觸開關；所述液晶顯示模塊包括1個LCD12864液晶LCD1和1個10KΩ可調電阻RV1；所述聲光報警模塊包括1個有源蜂鳴器U4、1個9012三極管Q1、1個發光二極管D1和2個1KΩ電阻R2～R3；所述語音播報模塊包括1個OTP語音芯片U2和1個0.5W/8 Ω揚聲器J1，OTP語音芯片型號為NY3P035。

本發明的有益效果為：本裝置有識別芯片型號模式和元件好壞判斷模式。識別模式下，將芯片放入芯片座模塊即可識別常見的74系列芯片(74LS00、74LS04、74LS10、74LS20、 74LS30、74LS32、74LS74、74LS138等)，顯示并語音播報芯片的型號；元件好壞判斷模式下，輸入74系列芯片的型號，即可判斷元件的好壞，若芯片壞發出聲光報警和語音警告提示。本裝置應用在芯片檢測回收場合，芯片循環回收，節約了資源，減少了芯片的浪費。

附圖說明

圖1為本發明的整體結構圖。

圖2為本發明的電路原理圖。

圖3為本發明的程序流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明做進一步說明。

如圖1所示，一種邏輯芯片測試裝置，該裝置包括單片機模塊、芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊。芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊與單片機模塊與單片機模塊分別連接。