[發明專利]一種邏輯芯片測試裝置在審
| 申請號： | 201811021915.5 | 申請日： | 2018-09-04 |
| 公開（公告）號： | CN110873838A | 公開（公告）日： | 2020-03-10 |
| 發明（設計）人： | 呂德深;梁承權;黃世玲 | 申請（專利權）人： | 南寧學院 |
| 主分類號： | G01R31/3177 | 分類號： | G01R31/3177;G01R31/319 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 530200 廣西壯族自治*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 邏輯 芯片 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種邏輯芯片測試裝置，其特征是：該裝置包括單片機模塊、芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊。芯片插座模塊、按鍵模塊、液晶顯示模塊、聲光報警模塊、語音播報模塊與單片機模塊與單片機模塊分別連接。
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