[發(fā)明專利]激光測量的校驗(yàn)方法、裝置、系統(tǒng)、設(shè)備和存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811015335.5
• 申請日: 2018-08-31
• 公開（公告）號: CN108827157B
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賈瑋
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州視源電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 黃隸凡

本發(fā)明涉及一種激光測量的校驗(yàn)方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。所述方法包括：獲取校驗(yàn)圖像；獲取所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的激光圖像，并識別所述激光圖像的激光點(diǎn)；根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測量精度。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，解決了利用尺寸精度不高的大型金屬進(jìn)行校驗(yàn)所造成的校驗(yàn)準(zhǔn)確性較低的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及激光測量領(lǐng)域，特別是涉及一種激光測量的校驗(yàn)方法、一種校驗(yàn)裝置、一種校驗(yàn)系統(tǒng)、一種計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)，通常通過激光三角系統(tǒng)對待測物體進(jìn)行激光測量。具體地，激光三角系統(tǒng)可以向物體投射激光，并對待測物體采集二維圖像，從該二維圖像中確定待測物體的三維坐標(biāo)，并根據(jù)物體的三維坐標(biāo)計(jì)算物體的三維尺寸。

為了實(shí)現(xiàn)對物體進(jìn)行精確的激光測量，需要對激光三角系統(tǒng)投射的激光進(jìn)行校驗(yàn)。對于小視野的激光三角系統(tǒng)，可以采用已知尺寸的小型金屬進(jìn)行校驗(yàn)。對于大視野的激光三角系統(tǒng)，則需要使用大型金屬進(jìn)行校驗(yàn)。

然而，由于金屬切割工藝的限制，大型金屬的尺寸精度難以得到保證，采用尺寸精度不高的大型金屬進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)準(zhǔn)確性較低，影響了激光測量的精度。

因此，目前激光測量的校驗(yàn)方法中存在著校驗(yàn)準(zhǔn)確性較低的問題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種能夠提升校驗(yàn)準(zhǔn)確性的激光測量的校驗(yàn)方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種激光測量的校驗(yàn)方法，包括：

獲取校驗(yàn)圖像；

獲取所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的激光圖像，并識別所述激光圖像的激光點(diǎn)；

根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；

根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測量精度。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種激光測量的校驗(yàn)方法，包括：

針對校驗(yàn)板采集校驗(yàn)圖像；

向所述校驗(yàn)板投射激光，針對所述校驗(yàn)板采集激光圖像，并識別所述激光圖像的激光點(diǎn)；

根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；

根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測量精度。

第三方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種校驗(yàn)系統(tǒng)，包括：

校驗(yàn)終端、激光測量設(shè)備、拍攝設(shè)備和校驗(yàn)板；

所述激光測量設(shè)備，用于向所述校驗(yàn)板投射激光；

所述拍攝設(shè)備，用于針對所述校驗(yàn)板采集校驗(yàn)圖像和激光圖像；

所述校驗(yàn)終端，用于識別所述激光圖像的激光點(diǎn)，根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測量精度。

第四方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種校驗(yàn)裝置，包括：

校驗(yàn)圖像獲取模塊，用于獲取校驗(yàn)圖像；

激光圖像獲取模塊，用于獲取所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的激光圖像，并識別所述激光圖像的激光點(diǎn)；

坐標(biāo)獲取模塊，用于根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；

擬合模塊，用于根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測量精度。