[發(fā)明專利]激光測(cè)量的校驗(yàn)方法、裝置、系統(tǒng)、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811015335.5
• 申請(qǐng)日: 2018-08-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108827157B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賈瑋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣州視源電子科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/00
• 分類號(hào): G01B11/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 黃隸凡

1.一種激光測(cè)量的校驗(yàn)方法，其特征在于，包括：

啟動(dòng)校驗(yàn)板上的用于發(fā)光的發(fā)光裝置，并獲取針對(duì)所述校驗(yàn)板進(jìn)行拍攝得到的校驗(yàn)圖像；

識(shí)別所述校驗(yàn)圖像的多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)，并獲取所述多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)的二維坐標(biāo)；

根據(jù)所述多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)的二維坐標(biāo)，計(jì)算內(nèi)參矩陣和外參矩陣，作為所述校驗(yàn)圖像的三維參數(shù)；

獲取所述校驗(yàn)圖像對(duì)應(yīng)的激光圖像，并識(shí)別所述激光圖像的激光點(diǎn)；

根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對(duì)應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)；

根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面；所述三維激光平面用于校驗(yàn)測(cè)量精度；

所述識(shí)別所述激光圖像的激光點(diǎn)，包括：在所述激光圖像中提取原始激光點(diǎn)；采用所述校驗(yàn)圖像的畸變校正參數(shù)，對(duì)所述原始激光點(diǎn)進(jìn)行畸變校正，得到校正激光點(diǎn)；對(duì)所述校正激光點(diǎn)進(jìn)行去噪，得到候選激光點(diǎn)；獲取二維坐標(biāo)符合設(shè)定的坐標(biāo)范圍的候選激光點(diǎn)，作為所述激光點(diǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述三維參數(shù)包括內(nèi)參矩陣和外參矩陣，所述根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對(duì)應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，包括：

獲取所述激光點(diǎn)的二維坐標(biāo)；

根據(jù)所述內(nèi)參矩陣和外參矩陣，將所述二維坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為三維坐標(biāo)，作為所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)所述校驗(yàn)圖像對(duì)應(yīng)的三維參數(shù)，獲取所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)之前，還包括：

識(shí)別所述校驗(yàn)圖像的多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)；

獲取所述多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)的二維坐標(biāo)；

根據(jù)所述多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)的二維坐標(biāo)，計(jì)算所述內(nèi)參矩陣和所述外參矩陣，作為所述三維參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述激光圖像具有多個(gè)，所述根據(jù)所述激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，擬合三維激光平面，包括：

獲取多個(gè)激光圖像的激光點(diǎn)，得到多組激光點(diǎn)；

根據(jù)所述多組激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)，生成多個(gè)三維激光點(diǎn)；

合成所述多個(gè)三維激光點(diǎn)，得到所述三維激光平面。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述三維參數(shù)還包括畸變校正參數(shù)，所述對(duì)所述校正激光點(diǎn)進(jìn)行去噪，得到候選激光點(diǎn)，包括：

通過(guò)RANSAC直線擬合，對(duì)所述校正激光點(diǎn)進(jìn)行去噪處理，將余下的校正激光點(diǎn)作為所述候選激光點(diǎn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，還包括：

識(shí)別所述多個(gè)校驗(yàn)點(diǎn)的圖像特征；

篩選圖像特征符合預(yù)設(shè)圖像特征的校驗(yàn)點(diǎn)，作為目標(biāo)校驗(yàn)點(diǎn)；

采用所述目標(biāo)校驗(yàn)點(diǎn)的二維坐標(biāo)，生成所述坐標(biāo)范圍。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述在所述激光圖像中提取原始激光點(diǎn)，包括：

識(shí)別所述激光圖像的多個(gè)像素點(diǎn)；

對(duì)所述多個(gè)像素點(diǎn)進(jìn)行上采樣，得到多個(gè)采樣像素點(diǎn)；

計(jì)算所述多個(gè)采樣像素點(diǎn)的卷積值；

在同一列的采樣像素點(diǎn)中，確定最大卷積值的采樣像素點(diǎn)，作為所述原始激光點(diǎn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述獲取校驗(yàn)圖像之前，還包括：

生成發(fā)光信息；

發(fā)送所述發(fā)光信息至校驗(yàn)板；所述校驗(yàn)板用于根據(jù)所述發(fā)光信息啟動(dòng)發(fā)光裝置；所述發(fā)光裝置用于發(fā)光。