[發明專利]電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法在審
| 申請號： | 201811015140.0 | 申請日： | 2018-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN109211930A | 公開（公告）日： | 2019-01-15 |
| 發明（設計）人： | 張南;陳妍;寥金枝;潘慧慧;傅超;華佑南;李曉旻 | 申請（專利權）人： | 勝科納米(蘇州)有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/91 | 分類號： | G01N21/91;G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 朱琳 |
| 地址： | 215123 江蘇省蘇州市工業園*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電子顯示屏 封裝材料 熒光 熒光溶液 納米級 缺陷檢測 熒光分子 預處理 紫外光照射 觀測樣品 技術保障 納米級別 樣品放置 樣品特征 不可逆 金屬層 烘干 無光 配制 滲入 電路 清洗 激光 取出 探測 保存 清晰 檢測 配置 | ||
1.一種電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，包括：
提供樣品，并對樣品進行預處理，所述樣品預處理步驟包括：使用有機溶劑擦拭樣品，并用光學顯微鏡觀察，確保樣品無污物；
根據樣品特征配制納米級別的熒光溶液或熒光氣體，并將配置好的熒光溶液或熒光氣體置于無光處保存；
將所述樣品放置于熒光溶液或熒光氣體中，使熒光分子充分滲入樣品的缺陷內；
取出樣品、清洗并烘干；
采用激光或者紫外光照射樣品，使缺陷中的熒光分子產生熒光；
觀測樣品并獲取樣品上納米級以上的缺陷。
2.如權利要求1所述的電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，其特征在于，所述熒光溶液包括熒光素、羅丹明B、羅丹明6G、三(8-羥基喹啉)鋁(Alq3)，濃度為1～1000ppm；所述熒光氣體包括苯，濃度為1～1000ppm。
3.如權利要求1所述的電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，其特征在于，所述樣品的滲透時間為0.01～50小時。
4.如權利要求1所述的電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，其特征在于，采用熒光顯微鏡或共聚焦顯微鏡對樣品表面以及截面進行觀察，追蹤進入到樣品缺陷中的熒光分子，得到熒光顯微圖片。
5.如權利要求4所述的電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，其特征在于，通過所述熒光顯微圖片來判斷缺陷的大小、位置及形態。
6.如權利要求1所述的電子顯示屏封裝材料的缺陷檢測方法，其特征在于，所述有機溶劑為去離子水、酒精、丙酮或甲醇。
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