[發(fā)明專利]一種測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811013878.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109358007B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇濤;劉一陽(yáng);劉洪濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/31 | 分類號(hào): | G01N21/31 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 鄧琪 |
| 地址: | 201800 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)定 樣品 太陽(yáng)能 吸收率 方法 | ||
本發(fā)明提供一種測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法,包括:步驟S1:采用光譜儀測(cè)量太陽(yáng)的熱輻射譜;步驟S2:采用吸收光譜裝置測(cè)量待測(cè)樣品的吸收譜;步驟S3:采用所述太陽(yáng)的熱輻射譜作為加權(quán)函數(shù)計(jì)算所述待測(cè)樣品的吸收譜的平均值,得到待測(cè)樣品的體吸收率Av。本發(fā)明的測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法基于測(cè)量輻射源的輻射光譜和吸收物質(zhì)的吸收譜來(lái)計(jì)算待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率,該方法能通過(guò)上述兩種譜線準(zhǔn)確覆蓋太陽(yáng)能熱輻射波段,可以得到50000?3000cm?1波段范圍內(nèi)太陽(yáng)光的相對(duì)能量,可以根據(jù)需求測(cè)定待測(cè)樣品對(duì)太陽(yáng)能熱輻射的體吸收率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽(yáng)能熱發(fā)電領(lǐng)域,具體涉及一種測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法。
背景技術(shù)
太陽(yáng)能熱發(fā)電技術(shù)得到越來(lái)越多的關(guān)注和發(fā)展,熔鹽由于優(yōu)良的熱物性和傳蓄熱性能在太陽(yáng)能熱發(fā)電領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。其中,利用熔鹽直接作為吸熱器(directreceiver)是一項(xiàng)非常有發(fā)展前景的技術(shù)。
在太陽(yáng)能發(fā)電技術(shù)中,通常都會(huì)有一個(gè)專門(mén)的吸熱器,吸熱后,將熱量傳遞給傳熱介質(zhì)(熔鹽),然后在回路中循環(huán)。現(xiàn)有技術(shù)中也可以將熔鹽直接作為吸熱器,此時(shí),熔鹽也是傳熱介質(zhì),那么此時(shí)的工作模式就變成了,熔鹽吸收熱量后,直接到回路中參與循環(huán)換熱等過(guò)程,這樣設(shè)計(jì)的好處是,設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、效率高、成本低等。由于使用了熔鹽作為吸熱器,因此有必要測(cè)定熔鹽對(duì)太陽(yáng)能的吸熱能力如何,也就是它對(duì)太陽(yáng)能熱輻射的體吸收率。
熔鹽(或其它物質(zhì)的待測(cè)樣品)的體吸收率的定義為該物質(zhì)吸收太陽(yáng)能的百分率。在先前文獻(xiàn)中尚未明確給出如何計(jì)算熔鹽的體吸收率的方法,市場(chǎng)上也尚沒(méi)有可以直接測(cè)定熔鹽體吸收率的儀器設(shè)備。采用現(xiàn)在市場(chǎng)上的功率計(jì)來(lái)測(cè)定熔鹽的體吸收率,從原理上來(lái)講可行,但由于市售功率計(jì)的測(cè)定波長(zhǎng)范圍都較短,例如350-400nm、500-700nm等,而太陽(yáng)光的輻射波長(zhǎng)范圍非常寬,其中,97%的能量分布在200-3000nm之間,所以市售功率計(jì)無(wú)法準(zhǔn)確覆蓋太陽(yáng)能熱輻射波段,現(xiàn)有的功率計(jì)不適用于測(cè)定熔鹽體吸收率,測(cè)試結(jié)果有很大誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法,根據(jù)需求計(jì)算不同波段范圍內(nèi)待測(cè)樣品的體吸收系數(shù),減小體吸收率的計(jì)算誤差。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種測(cè)定待測(cè)樣品太陽(yáng)能體吸收率的方法,包括:步驟S1:采用光譜儀測(cè)量太陽(yáng)的熱輻射譜;步驟S2:采用吸收光譜裝置測(cè)量待測(cè)樣品的吸收譜;步驟S3:采用所述太陽(yáng)的熱輻射譜作為加權(quán)函數(shù)計(jì)算所述待測(cè)樣品的吸收譜的平均值,得到待測(cè)樣品的體吸收率Av。
所述步驟S1中的光譜儀為紫外-可見(jiàn)吸收光譜儀,且所述步驟S1還包括:將測(cè)量到的太陽(yáng)的紫外-可見(jiàn)光波段的熱輻射譜采用分布函數(shù)進(jìn)行擬合,并將所得方程外推至太陽(yáng)的熱輻射譜的所有波段。
所述采用分布函數(shù)進(jìn)行擬合的方法包括數(shù)據(jù)處理軟件Origin中的GaussAmp模式、GaussMod模式、Gauss模式或Voigt模式。
所述方程為:其中,x是波數(shù),單位為cm-1,y是相對(duì)能量,無(wú)量綱。
所述吸收光譜裝置包括位于同一光路上的光源、樣品池和光譜儀,且所述光譜儀包括紫外-可見(jiàn)吸收光譜儀和紅外光譜儀。
所述步驟S2中的待測(cè)樣品的吸收譜的測(cè)量范圍是50000-3000cm-1。
所述步驟S2中待測(cè)樣品的吸收譜在200℃-400℃下測(cè)量。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





