[發明專利]一種測定待測樣品太陽能體吸收率的方法

有效

• 申請號: 201811013878.3
• 申請日: 2018-08-31
• 公開（公告）號: CN109358007B
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 蘇濤;劉一陽;劉洪濤
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海應用物理研究所
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 鄧琪

1.一種測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，包括：

步驟S1：采用光譜儀測量太陽的熱輻射譜；所述步驟S1中的光譜儀為紫外-可見吸收光譜儀，且所述步驟S1還包括：將測量到的太陽的紫外-可見光波段的熱輻射譜采用分布函數進行擬合，并將所得方程外推至太陽的熱輻射譜的所有波段；

步驟S2：采用吸收光譜裝置測量待測樣品的吸收譜；

步驟S3：采用所述太陽的熱輻射譜作為加權函數計算所述待測樣品的吸收譜的平均值，得到待測樣品的體吸收率A_v；

所述步驟S3包括：

步驟S31：將太陽的熱輻射譜和待測樣品的吸收譜的各個數據點的數據相乘得到待測樣品吸收后太陽輻射能量分布曲線，并將太陽的熱輻射譜與該待測樣品吸收后太陽輻射能量分布曲線重合，得到體吸收率計算示意圖；

步驟S32：計算太陽的熱輻射譜的總面積E₀；

步驟S33：計算待測樣品吸收后太陽輻射能量分布曲線的總面積E_i；

步驟S34：計算待測樣品吸收的太陽輻射能量分布曲線的總面積E₀-E_i；

步驟S35：利用太陽的熱輻射譜的總面積E₀和待測樣品吸收的太陽輻射能量分布曲線的總面積E₀-E_i計算待測樣品的體吸收率A_v；

所述待測樣品的體吸收率A_v為，A_v = （E₀-E_i）/E₀*100%，

其中，E₀為太陽的熱輻射譜的總面積，E_i為待測樣品吸收后太陽輻射能量分布曲線的總面積；

在所述步驟S1中，所述采用分布函數進行擬合的方法包括數據處理軟件Origin中的GaussAmp模式、GaussMod模式、Gauss模式和Voigt模式，對這四種模式進行評判，評判標準如下：

以真實帶毛刺的太陽能量分布曲線計算的在50000-10000cm^-1范圍內的太陽能量分布曲線的總面積為E₀’，再進行函數擬合，按照擬合模式以全波長90%透過率計算擬合的太陽能量分布曲線后求得待測樣品吸收后太陽輻射能量分布曲線的總面積E_i’，由E_i’與E₀’計算能量吸收率，觀察哪種擬合方式與10%最為接近。

2.根據權利要求1所述的測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，所述方程為：

，

其中，x是波數，單位為cm^-1，y是相對能量，無量綱。

3.根據權利要求1所述的測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，所述吸收光譜裝置包括位于同一光路上的光源、樣品池和光譜儀，且所述光譜儀包括紫外-可見吸收光譜儀和紅外光譜儀。

4.根據權利要求3所述的測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，所述步驟S2中的待測樣品的吸收譜的測量范圍是50000-3000cm^-1。

5.根據權利要求1所述的測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，所述步驟S2中待測樣品的吸收譜在200℃-400℃下測量。

6.根據權利要求1所述的測定待測樣品太陽能體吸收率的方法，其特征在于，所述待測樣品為常溫或高溫液態物質。